[发明专利]一种绝缘子自爆缺陷检测方法、装置、终端和存储介质

权利要求书

1.一种绝缘子自爆缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取目标区域内的绝缘子遥感图像数据，并对所述遥感图像数据进行预处理，获得预处理后的遥感图像数据；

构建自爆缺陷检测模型，其中，所述检测模型包括：基础网络单元、混合空洞卷积单元和检测单元；

将所述预处理后的遥感图像数据输入到所述自爆缺陷检测模型，获得缺陷检测的结果。

2.根据权利要求1所述的绝缘子自爆缺陷检测方法，其特征在于，所述预处理包括：灰度化处理、几何变换处理和图像增强处理。

3.根据权利要求1所述的绝缘子自爆缺陷检测方法，其特征在于，所述混合空洞卷积单元，采用如下计算公式：

f_n＝f_k+(f_k-1)*(D_r-1)

其中，f_k为空洞卷积的卷积核大小；f_n为空洞卷积等效卷积核大小；D_r为扩张率；l_m-1表示上一层的感受野；l_m表示当前层的感受野；s_i表示当前层之前第i层卷积步长。

4.根据权利要求1所述的绝缘子自爆缺陷检测方法，其特征在于，所述检测单元，采用如下计算公式：

其中，S_i为置信度分数，DIOU表示距离交并比，M表示出置信度得分最高的预测框，b_i为待处理预测框，D为预测框集合，IOU表示交并比，b表示预测框框中心点，b^gt表示真实框中心点，ρ²(b，b^gt)表示预测框框中心点b和真实框中心点b^gt之间的距离，c表示能够同时包含预测框和真实框的最小闭包区域的对角线距离。

5.根据权利要求2所述的绝缘子自爆缺陷检测方法，其特征在于，所述灰度化处理，包括：分量法、最大值法、平均值法和加权平均法；所述几何变换处理，包括：最近邻插值法、双线性插值法和双三次插值法；所述图像增强处理，包括：空间域法和频率域法。

6.一种绝缘子自爆缺陷检测装置，其特征在于，包括：获取模块、构建模块和检测模块，其中，

所述获取模块，用于获取目标区域内的绝缘子遥感图像数据，并对所述遥感图像数据进行预处理，获得预处理后的遥感图像数据；

所述构建模块，用于构建自爆缺陷检测模型，其中，所述检测模型包括：基础网络单元、混合空洞卷积单元和检测单元；

所述检测模块，用于将所述预处理后的遥感图像数据输入到所述自爆缺陷检测模型，获得缺陷检测的结果。

7.根据权利要求6所述的绝缘子自爆缺陷检测装置，其特征在于，所述混合空洞卷积单元，采用如下计算公式：

f_n＝f_k+(f_k-1)*(D_r-1)

其中，f_k为空洞卷积的卷积核大小；f_n为空洞卷积等效卷积核大小；D_r为扩张率；l_m-1表示上一层的感受野；l_m表示当前层的感受野；s_i表示当前层之前第i层卷积步长。