[发明专利]一种光耦故障检测电路、方法及通讯系统

权利要求书

1.一种光耦故障检测电路，其特征在于，所述光耦故障检测电路包括：

采样模块，设置在主机MCU和从机MCU之间，用于基于所述主机MCU的发送端发送的信号，生成第一采样信号，以及，基于所述主机MCU的接收端接收的信号，生成第二采样信号，并将所述第一采样信号和所述第二采样信号发送至所述从机MCU；其中，所述主机MCU和所述从机MCU之间通过第一光耦和第二光耦进行信号传输；

所述从机MCU，用于根据所述第一采样信号和所述从机MCU的接收端接收的信号判断所述第一光耦是否发生故障；以及，根据所述从机MCU的发送端发送的信号和所述第二采样信号判断所述第二光耦是否发生故障；其中，所述从机MCU的接收端接收的信号为所述主机MCU的发送端发出的信号经由所述第一光耦后生成的信号，所述从机MCU的发送端发送的信号经由所述第二光耦传输至所述主机MCU的接收端。

2.根据权利要求1所述的光耦故障检测电路，其特征在于，

所述采样模块，其第一接口连接所述主机MCU的发送端；其第二接口连接所述主机MCU的接收端；其第三接口连接所述从机MCU的第一反馈接口，并与所述第一接口导通，其第四接口连接所述从机MCU的第二反馈接口，并与所述第二接口导通。

3.根据权利要求2所述的光耦故障检测电路，其特征在于，所述采样模块包括：

第一采样单元，设置在所述主机MCU的发送端与所述从机MCU的所述第一反馈接口之间，用于根据所述主机MCU的发送端发送的信号生成所述第一采样信号，并输出至所述第一反馈接口；

第二采样单元，设置在所述主机MCU的接收端与所述从机MCU的所述第二反馈接口之间，用于根据所述主机MCU的接收端接收的信号生成所述第二采样信号，并输出至所述第二反馈接口。

4.根据权利要求3所述的光耦故障检测电路，其特征在于，所述从机MCU具体用于：

在所述第一采样信号为高电平信号，且所述从机MCU的接收端接收的信号为高电平信号时，判定所述第一光耦未发生故障；

在所述第一采样信号为高电平信号，且所述从机MCU的接收端接收的信号为低电平信号时，判定所述第一光耦发生故障。

5.根据权利要求3所述的光耦故障检测电路，其特征在于，所述从机MCU还具体用于：

在所述从机MCU的发送端发送的信号为高电平信号，且所述第二采样信号为高电平信号时，判定所述第二光耦未发生故障；

在所述从机MCU的发送端发送的信号为高电平信号，且所述第二采样信号为低电平信号时，判定所述第二光耦发生故障。

6.根据权利要求3所述的光耦故障检测电路，其特征在于，所述第一采样单元包括：

第一比较器，其同相输入端连接所述主机MCU的发送端，其反相输入端连接自身的输出端，其输出端连接所述从机MCU的所述第一反馈接口。

7.根据权利要求6所述的光耦故障检测电路，其特征在于，所述第一采样单元还包括：

第一电容，其第一端连接所述第一比较器的同相输入端，其第二端接地，用于保持所述第一比较器的同相输入端的电压。

8.根据权利要求3所述的光耦故障检测电路，其特征在于，所述第二采样单元包括：

第二比较器，其同相输入端连接所述主机MCU的接收端，其反相输入端连接自身的输出端，其输出端连接所述从机MCU的所述第二反馈接口。

9.根据权利要求8所述的光耦故障检测电路，其特征在于，所述第二采样单元还包括：

第二电容，其第一端连接所述第二比较器的同相输入端，其第二端接地，用于保持所述第二比较器的同相输入端的电压。

10.一种通讯系统，包括主机MCU、从机MCU、第一光耦和第二光耦，其特征在于，还包括权利要求1至9中任一项所述的光耦故障检测电路。