[发明专利]一种传感器参数矫正处理方法、装置和系统

权利要求书

1.一种传感器参数矫正处理方法，其特征在于，包括：

获取设备内部的电路板上的处理器的第一温度，其中，所述设备为测量温度和/或湿度传感器的设备；

获取传感器测量得到的参数，其中，所述传感器安装在所述电路板上，所述参数包括温度和/或湿度；

根据预先获取到的对应关系使用所述第一温度对所述参数进行矫正，其中，所述对应关系为处理器上的第一温度、所述传感器测量得到的第二温度以及所述设备所在环境的第三温度之间的对应关系；

在所述设备上显示矫正之后的参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对应关系为第一差值与第二差值之间的对应关系，其中，所述第一差值为所述第一温度与所述第二温度之间的差值，所述第二差值为所述第二温度与所述第三温度之间的差值。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在获取所述设备内部的电路板上的处理器的所述第一温度之前，所述方法还包括：

获取多组参数，其中，所述多组参数中的每一组参数均是在一种场景下测试得到的，所述多组参数为分别在不同场景下得到的参数，所述不同场景表示不同的环境和/或时间段，所述每一组参数至少包括在预定时间范围内使用预定频率采集到的所述处理器的温度、所述传感器测量的温度以及所述设备所在环境的温度；

根据所述多组参数获得所述设备所在的环境温度与所述处理器的温度和所述传感器测量得到的温度之间的函数关系；

将所述函数关系保存作为所述对应关系使用。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述多组参数获得所述设备所在的环境温度与所述处理器的温度和所述传感器测量得到的温度之间的函数关系包括：

从所述多组参数中得到第一曲线、第二曲线和第三曲线，其中，所述第一曲线为所述处理器的温度与时间的曲线，所述第二曲线为所述传感器测量的温度与时间的曲线，所述第三曲线为所述设备所在环境的温度；

根据所述第一曲线、所述第二曲线和所述第三曲线获得所述函数关系，其中，所述函数关系的输入为所述第一曲线和所述第二曲线之间的差值，所述函数关系为所述第二曲线和所述第三曲线之间的差值。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述预定时间范围从所述设备冷启动开始到T₁之后，其中，所述T₁为所述处理器发热对所述传感器的测量的影响完全起作用的时间点，所述函数关系为两段函数关系，其中，所述两段函数关系中的第一段函数关系为从所述设备冷启动到所述T₁时间范围内的函数关系，第二段函数关系为从T₁时间之后的函数关系。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，

所述第一段函数关系为线性函数关系，所述第二段函数关系为使用常量进行校准的函数关系；或者，

根据所述多组参数进行拟合分别得到所述第一段函数关系和所述第二段函数关系。

7.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，将所述函数关系保存作为所述对应关系使用包括：

获取热启动下的所述处理器的温度、所述传感器测量的温度和所述设备所在环境的温度；

使用所述热启动下的所述处理器的温度、所述传感器测量的温度和所述设备所在环境的温度对所述函数关系的误差进行判断；

在误差小于预定范围的情况下，将所述函数关系保存作为所述对应关系使用。

8.一种传感器参数矫正处理系统，其特征在于，包括：

处理器，设置在设备内部的电路板上；

传感器，安装在所述电路板上，用于测量参数，其中，所述参数包括温度和/或湿度；

软件用于执行权利要求1至7中任一项所述的方法。

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，还包括：

显示部，用于显示矫正之后的参数。

10.一种传感器参数矫正处理装置，其特征在于，包括：至少一个模块，其中，所述至少一个模块分别用于执行权利要求1至7中任一项所述的方法中的步骤。