[发明专利]一种负角度梯形螺纹齿宽测量方法及其装置

权利要求书

1.一种负角度梯形螺纹齿宽测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)确认螺纹齿形的设计参数；

2)根据步骤1)中的所述设计参数制作齿宽标准样块；

3)根据步骤2)中的所述齿宽标准样块制作齿宽仪表；

4)以所述齿宽标准样块为基准对所述齿宽仪表进行校零；

5)使用所述齿宽仪表测量所述螺纹齿形的齿宽数据；

6)根据测量所得的所述齿宽数据转换为实际齿宽S。

2.根据权利要求1所述的负角度梯形螺纹齿宽测量方法，其特征在于：所述步骤1)中，设计参数包括齿高h、螺距p、导向面齿形角α、承载面齿形角β和齿底宽t。

3.根据权利要求2所述的负角度梯形螺纹齿宽测量方法，其特征在于：所述步骤3)中，齿宽仪表上具有一个球形的测量触头；

所述测量触头的直径d需满足：

4.根据权利要求3所述的负角度梯形螺纹齿宽测量方法，其特征在于：所述步骤5)中，还需确认所述测量触头相对于所述齿宽标准样块的相对量δ。

5.根据权利要求4所述的负角度梯形螺纹齿宽测量方法，其特征在于，所述步骤6)中，转换为实际齿宽S如下：

S＝(tanα-tanβ)*δ。

6.一种负角度梯形螺纹齿宽测量装置，其特征在于：包括齿宽仪表，所述齿宽仪表包括表盘、连杆、基座和测量触头；

所述表盘位于所述基座的上方，所述测量触头位于所述基座的下方，所述连杆垂直于所述基座设置并穿过所述基座；

所述连杆的上端连接所述表盘，下端连接所述测量触头，

所述齿宽仪表通过执行如权利要求1-5之一所述的负角度梯形螺纹齿宽测量方法中的步骤1)至步骤3)制作而成，

所述齿宽仪表用于测量所述螺纹齿形的齿宽数据；

根据所述齿宽仪表测量所得的所述齿宽数据转换为实际齿宽S。

7.根据权利要求6所述的负角度梯形螺纹齿宽测量装置，其特征在于：所述连杆的横截面设置为圆形；

所述测量触头设置为球形。

8.根据权利要求7所述的负角度梯形螺纹齿宽测量装置，其特征在于：所述连杆的横截面直径小于所述测量触头的直径。