[发明专利]一种重建电路并联子结构的方法有效

专利信息
申请号: 202110797348.8 申请日: 2021-07-14
公开(公告)号: CN113435158B 公开(公告)日: 2022-05-24
发明(设计)人: 徐启迪;吴大可;周振亚 申请(专利权)人: 成都华大九天科技有限公司
主分类号: G06F30/398 分类号: G06F30/398;G06K9/62
代理公司: 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 代理人: 王金双
地址: 610200 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 重建 电路 并联 结构 方法
【权利要求书】:

1.一种重建电路并联子结构的方法,其特征在于,

包括以下步骤:

1)将电路转为二分图;

2)初始化顶点标记,对节点顶点进行标记;

所述步骤2)初始化顶点,对节点顶点进行标记的步骤,还包括,

对于器件顶点,两个器件对应的图顶点标记相同,当且仅当这两个器件的类型相同且参数相同时,对于节点顶点,赋予相同的标记;

3)根据标记进行节点顶点聚类;

所述步骤3)根据标记进行节点顶点聚类的步骤,还包括,

当且仅当同时满足:这两个顶点当前标记相同、它们和相邻器件顶点的连接完全相同、对应相邻器件顶点的当前标记相同的三个条件时,判定两个节点顶点属于同类;

4)根据标记进行器件顶点聚类;

所述步骤4)根据标记进行器件顶点聚类的步骤,还包括,

当且仅当同时满足:这两个顶点当前标记相同、它们和相邻节点顶点的连接完全相同、对应相邻节点顶点的当前标记相同的三个条件时,判定两个器件顶点属于同类;

5)检查是否已收敛到不动点,若是则执行步骤6),否则返回步骤3);

6)统计各类中顶点数量,重建并联子结构。

2.根据权利要求1所述的重建电路并联子结构的方法,其特征在于,

构造分类器,将所有顶点进行分类。

3.根据权利要求1所述的重建电路并联子结构的方法,其特征在于,

所述步骤5)检查是否已收敛到不动点的步骤,还包括,检查收敛条件,若本次聚类的类数目和上次聚类相同,则表示已收敛到不动点。

4.根据权利要求1所述的重建电路并联子结构的方法,其特征在于,

所述步骤6)统计各类中顶点数量,重建并联子结构的步骤,还包括,

统计各类中顶点的个数,将顶点个数为1的类的顶点标记为不连通,将每个连通分量构建为一个并联子结构,标记相同的顶点是并联子结构的对应点。

5.一种电子设备,其特征在于,

包括存储器和处理器,所述存储器上储存有在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器运行所述计算机程序时执行权利要求1至4任一项所述的重建电路并联子结构的方法的步骤。

6.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,

所述计算机程序运行时执行权利要求1至4任一项所述的重建电路并联子结构的方法的步骤。

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