[发明专利]一种包含气体缓冲和冲击测试结构的密封性能测试仪

说明书

本发明提供一种包含气体缓冲和冲击测试结构的密封性能测试仪。所述包含气体缓冲和冲击测试结构的密封性能测试仪包括：压力控制器、气体缓冲容器、密封测试容器和排空管路，所述压力控制器的输出端与所述气体缓冲容器的前端连接，所述排空管路的输入端连接于所述密封测试容器的输出端。本发明提供的包含气体缓冲和冲击测试结构的密封性能测试仪具有能够利用气体缓冲容器进行正压或负压储能然后对密封测试容器进行正压或负压快速冲击，以实现正负压快速冲击下密封性能的测试，在主供气管路上有气流压力波动时，气体缓冲容器能够对压力波动进行缓冲，以降低压力波动，在测试时需要缓慢加压和减压时，气体缓冲容器和流量控制阀配合能够实现缓慢加压和减压。

技术领域

本发明涉及包装物密封性能测试技术领域，尤其涉及一种包含气体缓冲和冲击测试结构的密封性能测试仪。

背景技术

在进行包装时需要使用到密封性能测试仪，密封性能测试仪又叫气密性检测仪或泄露性测试仪，主要适用于食品、制药、医疗器械、日化、汽车、电子元器件、文具、消费类电子等行业的包装袋、瓶、管、罐、盒等的密封试验。

密封性能测试仪在测试时主要由气源和管路进行正压和负压下的密封性能检测。

目前密封性能测试仪在测试时受到气源和管路的限制无法实现快速升压和降压，无法对测试样品进行正压和负压下的密封性能快速冲击测试，另外，现有的密封性能测试仪都采用气源直接给密封测试容器供气，气源和供气管路有压力波动时会导致密封性能测试仪内的压力传感器误判，出现错误的测试结果，再者由于目前密封性能测试仪是采用直接供气，难以实现样品测试过程中缓慢升压和降压需求。

因此，有必要提供一种包含气体缓冲和冲击测试结构的密封性能测试仪解决上述技术问题。

发明内容

本发明提供一种包含气体缓冲和冲击测试结构的密封性能测试仪，解决了在密封性行能测试时对测试样品无法进行正压和负压的快速冲击测试的问题。

为解决上述技术问题，本发明提供的包含气体缓冲和冲击测试结构的密封性能测试仪包括：压力控制器、气体缓冲容器、密封测试容器和排空管路，所述压力控制器的输出端与所述气体缓冲容器的前端连接，所述排空管路的输入端连接于所述密封测试容器的输出端；

第一控制阀，所述第一控制阀连接于所述气体缓冲容器的输出端和所述密封测试容器的输入端之间；

第一压力传感器，所述第一压力传感器设置于所述密封测试容器的一端，用于测试所述密封测试容器的压力；

第二控制阀，所述第二控制阀设置于所述排空管路上，用于控制所述排空管路中气流的通断。

优选的，所述气体缓冲容器设置于所述压力控制器输出端的支路上，所述气体缓冲容器的管路支路上设置有第三控制阀，用于控制气体缓冲容器与管路支路的通断。

优选的，所述第一压力传感器的输入端连接于所述第一控制阀和所述密封测试容器之间的主供管路上，所述排空管路的输入端连接于所述第一控制阀和所述密封测试容器之间的主供管路上。

优选的，所述气体缓冲容器上设置有第二压力传感器，用于检测所述气体缓冲容器内的气体压力。

优选的，所述气体缓冲容器的一端通过第三控制阀连接于所述压力控制器输出端的管路支路上。

优选的，所述第一压力传感器和所述排空管路分别连接于所述第一控制阀和所述密封测试容器之间的主供管路上。