[发明专利]基于自组装Ni纳米岛的JBS功率二极管及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110792656.1 申请日: 2021-07-14
公开(公告)号: CN115621327A 公开(公告)日: 2023-01-17
发明(设计)人: 叶建东;胡天澄;巩贺贺;郁鑫鑫;徐阳;张贻俊;任芳芳;顾书林;张荣 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: H01L29/872 分类号: H01L29/872;H01L21/329;H01L29/06
代理公司: 江苏法德东恒律师事务所 32305 代理人: 李媛媛
地址: 210046 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 基于 组装 ni 纳米 jbs 功率 二极管 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.基于自组装Ni纳米岛的JBS功率二极管,包括自下而上依次设置的阴极、N+衬底、JBS结构和阳极,其特征在于,所述JBS结构包括N-漂移层、PN异质结和Ni纳米岛,其中,N-漂移层上设有沟槽结构,位于沟槽内侧面和底部的P型金属氧化物与所述N-漂移层构成PN异质结;Ni纳米岛位于沟槽的顶部,与N-漂移层形成肖特基接触;所述PN异质结与肖特基接触相并联。

2.根据权利要求1所述的基于自组装Ni纳米岛的JBS功率二极管,其特征在于,所述N+衬底和N-漂移层均采用β-Ga2O3晶体。

3.根据权利要求1所述的基于自组装Ni纳米岛的JBS功率二极管,其特征在于,所述Ni纳米岛直径为100-500nm,其间距在百纳米级。

4.根据权利要求1所述的基于自组装Ni纳米岛的JBS功率二极管,其特征在于,所述P型金属氧化物的厚度为100-300nm,N-漂移层上的沟槽结构的深度为100-300nm。

5.如权利要求1所述基于自组装Ni纳米岛的JBS功率二极管的制备方法,其特征在于,该方法的步骤为:在衬底表面蒸镀一层Ni薄膜,再进行快速热退火,利用Ni薄膜在快速热退火下形成的自组装Ni纳米岛作为金属掩膜,对N-漂移层进行刻蚀形成沟槽结构,然后在沟槽结构中生长P型金属氧化物,位于沟槽内侧面和底部的金属氧化物与所述N-漂移层形成侧向PN异质结,且该侧向PN异质结与沟槽顶部的Ni纳米岛形成的肖特基接触相并联,从而形成JBS结构。

6.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,该方法的具体步骤为:

(1)利用电子束蒸发技术在衬底表面蒸镀一层Ni薄膜;

(2)对步骤(1)蒸镀好的样品进行快速热退火,使Ni薄膜形成自组装的Ni纳米岛;

(3)以所述Ni纳米岛为掩膜,用ICP工艺对N-漂移层进行刻蚀形成沟槽结构;

(4)利用电子束蒸发在衬底背面蒸镀Ti与Au;

(5)对步骤(4)蒸镀好的样品进行快速热退火,使样品形成背面钛金欧姆接触;

(6)用硬掩膜覆盖样品表面,利用磁控溅射在沟槽结构上生长百纳米级的P型金属氧化物;

(7)利用电子束蒸发在样品表面蒸镀Ni与Au,制备正面镍金电极。

7.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)中,Ni薄膜的厚度为5-15nm。

8.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,所述步骤(2)中,快速热退火的时间为1-5min,退火温度为850℃。

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