[发明专利]目标检测方法、装置、电子设备及可读存储介质

权利要求书

1.一种目标检测方法，其特征在于，包括：

获取待检测图像的多尺度特征；所述多尺度特征包括至少两个不同尺度的特征图；

依据所述多尺度特征，分别生成各尺度的第一类型卷积核，其中，所述第一类型卷积核包括多尺度信息；

分别依据各尺度的第一类型卷积核，对对应尺度的特征图进行特征融合，得到各尺度的特征融合后的特征图；

分别对各尺度的特征融合后的特征图进行目标检测；

其中，所述依据所述多尺度特征，分别生成各尺度的第一类型卷积核，包括：

分别依据所述多尺度特征中的各尺度特征，生成各尺度下的第三类型卷积核组；其中，任一尺度下的第三类型卷积核组中的第三类型卷积核的数量与所述至少两个不同尺度中尺度的数量一致，且任一尺度下的卷积核组中的第三类型卷积核与所述至少两个不同尺度一一对应；

对于所述至少两个尺度中的任一目标尺度，依据所生成的各尺度下的第三类型卷积核组中，与该目标尺度对应的第三类型卷积核，生成该目标尺度的第一类型卷积核；

所述分别依据各尺度的第一类型卷积核，对对应尺度的特征图进行特征融合，得到各尺度的特征融合后的特征图，包括：

对于任一尺度的特征图，将该尺度的特征图以及该尺度的第一类型卷积核，输入到用于进行特征融合的第一目标卷积层，通过所述第一目标卷积层，利用该尺度的第一类型卷积核，对该尺度的特征图进行特征融合处理，得到该尺度的特征融合后的特征图。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对于任一尺度的特征图，将该尺度的特征图以及该尺度的第一类型卷积核，输入到用于进行特征融合的第一目标卷积层之后，还包括：

将各尺度的特征融合后的特征图合并输入到用于进行特征融合的第二目标卷积层，得到各尺度二次特征融合后的特征图。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对于任一尺度的特征图，将该尺度的特征图以及该尺度的第一类型卷积核，输入到用于进行特征融合的第一目标卷积层之前，还包括：

将各尺度的特征图合并输入到用于进行特征融合的第三目标卷积层，得到各尺度的特征融合后的特征图；

所述对于任一尺度的特征图，将该尺度的特征图以及该尺度的第一类型卷积核，输入到用于进行特征融合的第一目标卷积层，包括：

对于任一尺度的特征图，将该尺度特征融合后的特征图以及该尺度的第一类型卷积核，输入到用于进行特征融合的第一目标卷积层，通过所述第一目标卷积层，利用该尺度的第一类型卷积核，对该尺度特征融合后的特征图进行特征融合处理，得到该尺度二次特征融合后的特征图。

4.一种目标检测装置，其特征在于，包括：

获取单元，用于获取待检测图像的多尺度特征；所述多尺度特征包括至少两个不同尺度的特征图；

生成单元，用于依据所述多尺度特征，分别生成各尺度的第一类型卷积核，其中，所述第一类型卷积核包括多尺度信息；

特征融合单元，用于分别依据各尺度的第一类型卷积核，对对应尺度的特征图进行特征融合，得到各尺度的特征融合后的特征图；

检测单元，用于分别对各尺度的特征融合后的特征图进行目标检测；

其中，所述生成单元依据所述多尺度特征，分别生成各尺度的第一类型卷积核，包括：

分别依据所述多尺度特征中的各尺度特征，生成各尺度下的第三类型卷积核组；其中，任一尺度下的第三类型卷积核组中的第三类型卷积核的数量与所述至少两个不同尺度中尺度的数量一致，且任一尺度下的卷积核组中的第三类型卷积核与所述至少两个不同尺度一一对应；

对于所述至少两个尺度中的任一目标尺度，依据所生成的各尺度下的第三类型卷积核组中，与该目标尺度对应的第三类型卷积核，生成该目标尺度的第一类型卷积核；

所述特征融合单元分别依据各尺度的第一类型卷积核，对对应尺度的特征图进行特征融合，得到各尺度的特征融合后的特征图，包括：

对于任一尺度的特征图，将该尺度的特征图以及该尺度的第一类型卷积核，输入到用于进行特征融合的第一目标卷积层，通过所述第一目标卷积层，利用该尺度的第一类型卷积核，对该尺度的特征图进行特征融合处理，得到该尺度的特征融合后的特征图。