[发明专利]一种智能设备测试方法、装置、电子设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202110771765.5 申请日: 2021-07-08
公开(公告)号: CN113590393A 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 林丰 申请(专利权)人: 深圳TCL新技术有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G01R31/00
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 黄灵飞
地址: 518052 广东省深圳市南山区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 智能 设备 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质
【说明书】:

本申请实施例公开了一种智能设备测试方法、装置、电子设备和存储介质;本申请实施例可以获取针对智能设备的测试配置信息;根据测试配置信息向智能设备发送测试启动指令,以使得智能设备根据测试启动指令执行相应的测试操作;根据测试配置信息向至少一个测试仪发送测试监控指令,以使得测试仪根据测试监控指令对智能设备进行测试监控;接收智能设备发送的测试状态信息和测试仪发送的测试反馈信息;根据测试状态信息和测试反馈信息生成智能设备的测试报告,提高了对智能设备进行整机测试的效率。

技术领域

本申请涉及通讯技术领域,具体涉及一种智能设备测试方法、装置、电子设备和存储介质。

背景技术

在开发完一款智能设备之后,往往需要对智能设备进行整机测试之后,才可以将开发的智能设备投入生产和使用。其中,在对智能设备进行整机测试时,由于智能设备的特殊性(例如,智能设备依赖手工的动作多,对测试环境依赖大等等),使得在对智能设备进行测试时往往需要人工模拟真实的智能设备使用情况,才能实现对智能设备进行整机测试,而不能像软件测试一样借助脚本实现自动化测试。而通过人工对智能设备进行整机测试,会降低对智能设备进行整机测试的效率。

发明内容

本申请实施例提出了一种智能设备测试方法、装置、电子设备和存储介质,可以提高对智能设备进行整机测试的效率。

本申请实施例提供了一种智能设备测试方法,包括:

获取针对智能设备的测试配置信息;

根据所述测试配置信息向所述智能设备发送测试启动指令,以使得所述智能设备根据所述测试启动指令执行相应的测试操作;

根据所述测试配置信息向至少一个测试仪发送测试监控指令,以使得所述测试仪根据所述测试监控指令对所述智能设备进行测试监控;

接收智能设备发送的测试状态信息和所述测试仪发送的测试反馈信息;

根据所述测试状态信息和所述测试反馈信息生成所述智能设备的测试报告。

相应的,本申请实施例还提供了一种智能设备测试装置,包括:

第一接收单元,用于获取针对智能设备的测试配置信息;

第一发送单元,用于根据所述测试配置信息向所述智能设备发送测试启动指令,以使得所述智能设备根据所述测试启动指令执行相应的测试操作;

第二发送单元,用于根据所述测试配置信息向至少一个测试仪发送测试监控指令,以使得所述测试仪根据所述测试监控指令对所述智能设备进行测试监控;

第二接收单元,用于接收智能设备发送的测试状态信息和所述测试仪发送的测试反馈信息;

生成单元,用于根据所述测试状态信息和所述测试反馈信息生成所述智能设备的测试报告。

在一实施例中,所述第一发送单元,可以包括:

信息解析子单元,用于对所述测试配置信息进行解析,得到至少一个运行模式测试信息,其中一个运行模式测试信息包括针对智能设备的一种运行模式进行配置的信息;

指令生成子单元,用于根据所述至少一个运行模式测试信息,生成至少一个测试启动指令,其中,一个运行模式测试信息对应一个测试启动指令;

指令发送子单元,用于按照预设运行模式测试顺序,将所述至少一个测试启动指令发送给所述智能设备。

在一实施例中,所述指令生成子单元,可以包括:

编码模块,用于根据所述运行模式测试信息,利用预设通信协议,对所述运行模式测试信息进行编码处理,得到目标格式测试信息;

封装模块,用于对所述目标格式测试信息进行封装处理,得到所述测试启动指令。

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