[发明专利]一种集成电路封装后去除溢料设备在审
| 申请号: | 202110770562.4 | 申请日: | 2021-07-08 |
| 公开(公告)号: | CN113471110A | 公开(公告)日: | 2021-10-01 |
| 发明(设计)人: | 生升 | 申请(专利权)人: | 生升 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市罗湖区清水河*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 集成电路 封装 去除 设备 | ||
1.一种集成电路封装后去除溢料设备,其结构包括下机箱(1)、上机箱(2)、操作门(3)、预存箱(4),其特征在于:
所述下机箱(1)上方焊接连接有上机箱(2),所述操作门(3)铰链连接在上机箱(2)正面,所述预存箱(4)安装在下机箱(1)内部;
所述预存箱(4)由箱体(41)、箱门(42)、落料口(43)、排水口(44)、传送带(45)、除水装置(46)、储存装置(47)组成,所述箱体(41)右端铰链连接有箱门(42),所述落料口(43)设于箱体(41)上方左端,所述排水口(44)设于箱体(41)左下端,所述落料口(43)、排水口(44)与箱体(41)为一体化结构,所述传送带(45)活动卡合在箱体(41)内部,所述除水装置(46)安装在箱体(41)内壁,所述储存装置(47)嵌固连接在箱体(41)内壁。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路封装后去除溢料设备,其特征在于:所述除水装置(46)由第一滚轴(461)、吸水套(462)、挤压辊(463)、盛水架(464)、出水口(465)组成,所述第一滚轴(461)嵌固连接在吸水套(462)内部,所述挤压辊(463)贴合在吸水套(462)左侧,所述盛水架(464)设于挤压辊(463)下方,所述出水口(465)设于盛水架(464)内壁下端。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路封装后去除溢料设备,其特征在于:所述储存装置(47)由第一齿轮(471)、第二齿轮(472)、第三齿轮(473)、拨块(474)、放置装置(475)组成,所述第二齿轮(472)啮合在第一齿轮(471)与第三齿轮(473)之间,所述拨块(474)嵌固连接在第三齿轮(473)内侧,所述放置装置(475)设于第三齿轮(473)右侧。
4.根据权利要求3所述的一种集成电路封装后去除溢料设备,其特征在于:所述放置装置(475)由放置仓(751)、放置架(752)、齿杆(753)、支撑架(754)、隔布(755)、摆布装置(756)组成,所述放置仓(751)内部活动卡合有放置架(752),所述齿杆(753)焊接连接在放置架(752)上端,所述支撑架(754)嵌固连接在放置仓(751)右端上方,所述隔布(755)打卷在支撑架(754)上端,所述隔布(755)左端经过摆布装置(756)下端,嵌固连接在放置架(752)上方左侧,所述摆布装置(756)设于齿杆(753)内侧,与箱体(41)活动卡合。
5.根据权利要求4所述的一种集成电路封装后去除溢料设备,其特征在于:所述摆布装置(756)由摆杆(561)、推块(562)、第二滚轴(563)、置布架(564)组成,所述摆杆(561)上端嵌固连接有推块(562),所述摆杆(561)通过第二滚轴(563)与箱体(41)活动卡合,所述置布架(564)焊接连接在摆杆(561)下端。
6.根据权利要求5所述的一种集成电路封装后去除溢料设备,其特征在于:所述置布架(564)由连接块(641)、第三滚轴(642)、开孔刺(643)组成,所述第三滚轴(642)共设有两根,两根所述第三滚轴(642)活动卡合在连接块(641)左右两端,所述开孔刺(643)设于第三滚轴(642)表面,且开孔刺(643)与第三滚轴(642)为一体化结构。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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