[发明专利]无线设备的频偏校正方法、装置、设备、存储介质和系统有效
申请号: | 202110769998.1 | 申请日: | 2021-07-08 |
公开(公告)号: | CN113225142B | 公开(公告)日: | 2021-11-09 |
发明(设计)人: | 刘惠民 | 申请(专利权)人: | 珠海泰芯半导体有限公司 |
主分类号: | H04B17/11 | 分类号: | H04B17/11;H04B17/21;H04L27/26;H04L27/00 |
代理公司: | 广东朗乾律师事务所 44291 | 代理人: | 杨焕军 |
地址: | 519000 广东省珠海市高新区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 无线 设备 校正 方法 装置 存储 介质 系统 | ||
1.一种无线设备的频偏校正方法,其特征在于,所述方法应用于样本设备和待测设备,所述样本设备设置有源晶振,所述待测设备设置无源晶振和可调电容,所述样本设备和所述待测设备之间通过信号线建立控制链路,所述待测设备的接收频率和所述样本设备的发射频率相同,所述样本设备和待测设备设置有多个增益档位,所述样本设备使用最大增益档位发射,所述待测设备使用最小增益档位接收;
其中,所述方法包括:
所述待测设备通过所述控制链路向所述样本设备发送测试开始指令;其中,所述测试开始指令用于指示所述样本设备通过射频天线向所述待测设备发送多个测试数据包;
所述待测设备通过射频天线接收来自所述样本设备的多个测试数据包;其中,各个测试数据包携带测试标识;
所述待测设备对所述多个测试数据包进行解码得到多个频偏值;
将所述多个频偏值进行升序排列或降序排列,利用预设长度的滑动窗在排序后的多个频偏值上滑动N次,滑动范围为首个频偏值到最后一个频偏值,滑动窗的长度大于或等于2,即滑动窗至少覆盖两个频偏值,滑动N次对应N个滑动位置,对于每个滑动位置上滑动窗覆盖的频偏值进行算术平均得到平均值,然后将N个平均值进行算术平均得到实际频偏值;
若所述实际频偏值的绝对值大于频偏阈值时,通过调节所述可调电容的电容值校正所述待测设备的接收频率。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待测设备的接收频率为基准频率;
所述通过调节所述可调电容的电容值校正所述待测设备的接收频率,包括:
若所述实际频偏值小于零,增加所述可调电容的电容值;
若所述实际频偏值大于零,减小所述可调电容的电容值。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,还包括:
若所述实际频偏值的绝对值大于频偏阈值时,发出第一提醒消息;
若所述实际频偏值的绝对值小于或等于频偏阈值时,发出第二提醒消息。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述信号线为串口线。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述测试开始指令携带测试标识;
所述待测设备通过射频天线接收来自所述样本设备的多个测试数据包,包括;
解析接收到的测试数据包的包头中携带的标识;
在所述标识为所述测试标识时,缓存该测试数据包;
在所述标识不为测试标识时,丢弃该测试数据包。
6.一种频偏校正装置,其特征在于,包括:
收发单元,用于通过控制链路向样本设备发送测试开始指令;其中,所述测试开始指令用于指示样本设备通过射频天线向待测设备发送多个测试数据包,所述样本设备和待测设备设置有多个增益档位,所述样本设备使用最大增益档位发射,所述待测设备使用最小增益档位接收;
所述收发单元,还用于通过射频天线接收来自所述样本设备的多个测试数据包;其中,各个测试数据包携带测试标识;
解码单元,用于对所述多个测试数据包进行解码得到多个频偏值;
滤波单元,用于将所述多个频偏值进行升序排列或降序排列,利用预设长度的滑动窗在排序后的多个频偏值上滑动N次,滑动范围为首个频偏值到最后一个频偏值,滑动窗的长度大于或等于2,即滑动窗至少覆盖两个频偏值,滑动N次对应N个滑动位置,对于每个滑动位置上滑动窗覆盖的频偏值进行算术平均得到平均值,然后将N个平均值进行算术平均得到实际频偏值;
校正单元,用于若所述实际频偏值的绝对值大于频偏阈值时,通过调节可调电容的电容值校正所述待测设备的接收频率。
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