[发明专利]一种光路耦合测试设备

说明书

本发明提供了一种光路耦合测试设备，用于对待测光模块的光路耦合进行测试，其包括底座、影像捕捉器件以及位置调节机构，其中，底座用于放置待测光模块，位置调节机构设置在底座上且与底座滑动配合，位置调节机构连接于影像捕捉器件，位置调节机构用于带动影像捕捉器件在三维空间中移动，影像捕捉器件用于捕捉待测光模块的光纤接口的图像。本发明能够自动完成对待测光模块的光纤接口的对焦定位和影像捕捉，从而能够有效地提升光路耦合测试设备的测试效率，并缩短光路耦合测试设备的测试时间。

【技术领域】

本发明涉及光通信技术领域，尤其涉及一种光路耦合测试设备。

【背景技术】

相关技术中，光路耦合测试设备一般用于对待测光模块的光路耦合进行测试，其中，待测光模块一般包括激光器及光透镜，当激光器与光透镜位于同一条光路时，表示待测光模块的光路耦合完成。光路耦合测试设备一般包括底座以及设置在底座上的影像捕捉装置，其中，底座用于放置待测光模块，影像捕捉装置用于对待测光模块的光纤接口进行影像捕捉，由此，便可以根据所捕捉的影像对待测光模块的光路耦合的效果进行测试。在实际应用中，测试人员通常需要手动对影像捕捉装置的位置进行调节，以完成与待测光模块的对焦定位和影像捕捉，从而导致光路耦合测试设备的自动化程度较低，进而导致光路耦合测试设备的测试效率较低，测试时间较长。

因此，有必要对上述光路耦合测试设备的结构进行改进。

【发明内容】

本发明提供了一种光路耦合测试设备，旨在解决相关技术中光路耦合测试设备的测试效率较低，测试时间较长的问题。

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供一种光路耦合测试设备，用于对待测光模块的光路耦合进行测试，其包括：底座、影像捕捉器件以及位置调节机构，所述底座用于放置所述待测光模块，所述位置调节机构设置在所述底座上且与所述底座滑动配合，所述位置调节机构连接于所述影像捕捉器件，所述位置调节机构用于带动所述影像捕捉器件在三维空间中移动，所述影像捕捉器件用于捕捉所述待测光模块的光纤接口的图像。

从上述描述可知，与相关技术相比，本发明的有益效果在于：

将位置调节机构设置在底座上，并使得位置调节机构与底座滑动配合；将位置调节机构连接于影像捕捉器件，并使得位置调节机构带动影像捕捉器件在三维空间中移动。基于此，当需要对待测光模块的光路耦合进行测试时，测试人员仅需输入相关的命令或参数，位置调节机构便会自动带着影像捕捉器件在三维空间中移动，以自动完成对待测光模块的光纤接口的对焦定位和影像捕捉。由此可见，本发明的自动化程度更高，从而能够有效地提升光路耦合测试设备的测试效率，并缩短光路耦合测试设备的测试时间。

【附图说明】

为了更清楚地说明相关技术或本发明实施例中的技术方案，下面将对相关技术或本发明实施例的描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，而并非是全部实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的第一种光路耦合测试设备的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的第二种光路耦合测试设备的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的第二种光路耦合测试设备的分解示意图；

图4为本发明实施例提供的图3中A处的局部放大图；

图5为本发明实施例提供的图3中B处的局部放大图；

图6为本发明实施例提供的第三种光路耦合测试设备的结构示意图；

图7为本发明实施例提供的第三种光路耦合测试设备的分解示意图；

图8为本发明实施例提供的图7中C处的局部放大图。

【具体实施方式】