[发明专利]触控校准方法、装置、存储介质及电子设备

权利要求书

1.一种触控校准方法，其特征在于，应用于电子设备，所述电子设备包括触控区域，所述触控区域包括呈多行多列分布的多个触控节点，所述方法包括：

当检测到所述触控区域中的所述触控节点的感应值异常时，判断所述触控区域是否有触控操作；

若否，则在所述触控区域满足第一预设条件时，对所述触控区域中的所述触控节点的触控基准值进行校准；

若是，则对所述触控区域中的所述触控节点的所述感应值进行校准。

2.根据权利要求1所述的触控校准方法，其特征在于，所述当检测到所述触控区域中的所述触控节点的感应值异常时，判断所述触控区域是否有触控操作，包括：

获取所述触控区域中每个所述触控节点的所述感应值；

检测所述感应值位于预设异常范围的所述触控节点的数量是否大于第一阈值；

若是，则确定所述触控区域中的所述触控节点的所述感应值异常，并判断所述触控区域是否有触控操作。

3.根据权利要求1所述的触控校准方法，其特征在于，所述在所述触控区域满足第一预设条件时，对所述触控区域中的所述触控节点的触控基准值进行校准，包括：

对所述触控区域中的所述触控节点进行连续多次扫描；

每扫描一次，判断所述触控区域中的所述触控节点是否满足第二预设条件，若是，则确定本次扫描异常；

若连续预设次数扫描异常，则确定所述触控区域满足第一预设条件，并对所述触控区域中的所述触控节点的触控基准值进行校准。

4.根据权利要求3所述的触控校准方法，其特征在于，所述第二预设条件包括：

所述触控区域中负值触控节点的所述感应值的绝对平均值大于第二阈值、所述触控区域的边缘区域中正值触控节点的数量大于第三阈值，以及所述正值触控节点对应的所述感应值的均值大于第四阈值；其中，所述负值触控节点为所述感应值为负值的所述触控节点，所述正值触控节点为所述感应值为正值的所述触控节点。

5.根据权利要求1所述的触控校准方法，其特征在于，所述对所述触控区域中的所述触控节点的触控基准值进行校准，包括：

确定所述触控区域中异常的触控节点；

调整所述异常的触控节点对应的触控基准值，以使所述异常的触控节点的所述感应值等于零。

6.根据权利要求1所述的触控校准方法，其特征在于，所述对所述触控区域中的所述触控节点的所述感应值进行校准，包括：

分别将每行触控节点作为目标行触控节点，确定所述目标行触控节点中所述感应值的绝对值不大于预设绝对值的所述触控节点；

计算所确定的所述触控节点的所述感应值的均值；

将所述目标行触控节点中每个所述触控节点的所述感应值减去所述均值后的数值更新为相应所述触控节点的所述感应值。

7.一种触控校准装置，其特征在于，应用于电子设备，所述电子设备包括触控区域，所述触控区域包括呈多行多列分布的多个触控节点，所述装置包括：

判断模块，用于当检测到所述触控区域中的所述触控节点的感应值异常时，判断所述触控区域是否有触控操作；

触控基准值校准模块，用于若否，则在所述触控区域满足第一预设条件时，对所述触控区域中的所述触控节点的触控基准值进行校准；

感应值校准模块，用于若是，则对所述触控区域中的所述触控节点的所述感应值进行校准。

8.根据权利要求1所述的触控校准装置，其特征在于，所述判断模块具体用于：

获取所述触控区域中每个所述触控节点的所述感应值；

检测所述感应值位于预设异常范围的所述触控节点的数量是否大于第一阈值；

若是，则确定所述触控区域中的所述触控节点的所述感应值异常，并判断所述触控区域是否有触控操作。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载以执行权利要求1至6任一项所述的触控校准方法。

10.一种电子设备，其特征在于，包括处理器和存储器，所述处理器与所述存储器电性连接，所述存储器用于存储指令和数据，所述处理器用于执行权利要求1至6任一项所述的触控校准方法中的步骤。