[发明专利]对SAR的干扰效能评估方法及装置

权利要求书

1.一种对SAR的干扰效能评估方法，其特征在于，包括：

设定目标SAR在用于评估干扰效能时的基准参数；

控制待评估干扰源对工作在所述基准参数模式的目标SAR进行干扰；

获取所述目标SAR被所述待评估干扰源干扰后的干扰图像覆盖面积；

获取所述待评估干扰源对所述目标SAR进行干扰时的等效全向辐射功率；

根据所述干扰图像覆盖面积、等效全向辐射功率，得到干扰效能参数；

提取所述目标SAR工作在所述基准参数模式时的干扰评估阈值；

比较所述干扰效能参数与所述干扰评估阈值，得到干扰效果评估值；

其中，所述干扰效能参数通过计算所述等效全向辐射功率与所述干扰图像覆盖面积的比值或计算所述干扰图像覆盖面积与所述等效全向辐射功率的比值得到。

2.一种对SAR的干扰效能评估方法，其特征在于，包括：

设定目标SAR在用于评估干扰效能时的基准参数；

控制第一待评估干扰源、第二待评估干扰源分别对工作在所述基准参数模式的目标SAR进行干扰；

获取所述第一待评估干扰源对所述目标SAR进行干扰时的第一等效全向辐射功率；

获取所述第二待评估干扰源对所述目标SAR进行干扰时的第二等效全向辐射功率；

获取目标SAR被所述第一待评估干扰源干扰后的第一干扰图像覆盖面积；

获取目标SAR被所述第二待评估干扰源干扰后的第二干扰图像覆盖面积；

根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值；

其中，通过计算方法一或计算方法二计算所述干扰效果评估值；

计算方法一：

计算所述第一等效全向辐射功率与所述第一干扰图像覆盖面积的比值，得到第一干扰效能参数；

计算所述第二等效全向辐射功率与所述第二干扰图像覆盖面积的比值，得到第二干扰效能参数；

比较所述第一干扰效能参数与所述第二干扰效能参数，得到干扰效果评估值；

计算方法二：

计算所述第一干扰图像覆盖面积与所述第一等效全向辐射功率的比值，得到第一干扰效能参数；

计算所述第二干扰图像覆盖面积与所述第二等效全向辐射功率的比值，得到第二干扰效能参数；

比较所述第一干扰效能参数与所述第二干扰效能参数，得到干扰效果评估值。

3.一种对SAR的干扰效能评估方法，其特征在于，包括：

设定目标SAR在用于评估干扰效能时的基准参数；

控制待评估干扰源分别采用第一干扰方法、第二干扰方法对工作在所述基准参数模式的目标SAR进行干扰；

获取所述待评估干扰源采用第一干扰方法对所述目标SAR进行干扰时的第一等效全向辐射功率；

获取所述待评估干扰源采用第二干扰方法对所述目标SAR进行干扰时的第二等效全向辐射功率；

获取目标SAR被所述第一干扰方法干扰后的第一干扰图像覆盖面积；

获取目标SAR被所述第二干扰方法干扰后的第二干扰图像覆盖面积；

根据所述第一等效全向辐射功率、第二等效全向辐射功率、第一干扰图像覆盖面积、第二干扰图像覆盖面积，得到干扰效果评估值；

其中，通过计算方法一或计算方法二计算所述干扰效果评估值；

计算方法一：

计算所述第一等效全向辐射功率与所述第一干扰图像覆盖面积的比值，得到第一干扰效能参数；

计算所述第二等效全向辐射功率与所述第二干扰图像覆盖面积的比值，得到第二干扰效能参数；

比较所述第一干扰效能参数与所述第二干扰效能参数，得到干扰效果评估值；

计算方法二：

计算所述第一干扰图像覆盖面积与所述第一等效全向辐射功率的比值，得到第一干扰效能参数；

计算所述第二干扰图像覆盖面积与所述第二等效全向辐射功率的比值，得到第二干扰效能参数；

比较所述第一干扰效能参数与所述第二干扰效能参数，得到干扰效果评估值。