[发明专利]颗粒物检测装置及检测方法

权利要求书

1.一种分离和检测颗粒物的微流控芯片，其包括进样部、主通道(3)、介电泳电场发生部和电阻抗检测部。

2.根据权利要求1所述的微流控芯片，其中

所述进样部包括1个或更多个样品通道(1)，以及任选地1个或更多个鞘液通道(2)，例如1、2或3个样品通道和1、2、3、4、5或6个鞘液通道，更例如1个样品通道和2个鞘液通道，所述1个或更多个样品通道(1)与任选地所述1个或更多个鞘液通道(2)在一端汇合，并与主通道(3)连接，从而使样品流与任选地鞘液流汇聚后注入主通道(3)；

所述主通道(3)上依次设置有介电泳电场发生部与电阻抗检测部；

所述介电泳电场发生部包括在主通道(3)上部或下部设置的介电泳发生电极(4)，所述介电泳发生电极用于产生在垂直于主通道的方向上不均匀的电场，从而使主通道(3)液流中的颗粒物在垂直于主通道的方向发生介电泳；

所述电阻抗检测部包括在主通道(3)上部或下部设置的电阻抗检测电极(5)，能够响应于流经主通道(3)的颗粒物并产生电阻抗检测信号。

3.根据权利要求1或2所述的微流控芯片，其包括一个或更多个所述介电泳电场发生部，例如1、2、3、4或5个；特别地当包括2个或更多个所述介电泳电场发生部时，优选地所述介电泳发生电极分别设置在主通道上部和下部。

4.根据权利要求1至3任一项所述的微流控芯片，其中至少一个所述介电泳发生电极(4)设置在主通道(3)下部，例如设置于芯片的基片上。

5.根据权利要求1至4任一项所述的微流控芯片，其中至少一个所述介电泳发生电极(4)设置在主通道(3)上部，例如设置于覆盖在微流控芯片之基片上方的盖片上。

6.根据权利要求1至5任一项所述的微流控芯片，其中所述电阻抗检测电极(5)设置在主通道(3)下部，优选设置于芯片的基片上。

7.根据权利要求1至5任一项所述的微流控芯片，其中所述电阻抗检测电极(5)设置在主通道(3)上部，优选设置于覆盖于微流控芯片之基片上方的盖片上。

8.根据权利要求1至7任一项所述的微流控芯片，其中所述介电泳发生电极(4)是导电金属电极或具有光导电效应的光电材料，例如非晶硅(Amorphous silicon)或氧化锌(ZnO)等，其可经由局部光照产生非均匀电场进而产生介电泳力。

9.根据权利要求1至8任一项所述的微流控芯片，其中所述颗粒物是感兴趣的细胞，例如肿瘤细胞，尤其是循环肿瘤细胞。

10.一种分离和检测颗粒物的电阻抗检测装置，包括权利要求1至9任一项所述的微流控芯片。

11.根据权利要求10所述的电阻抗检测装置，还包括与介电泳发生电极(4)连接的介电泳电场信号发生器，和/或与电阻抗检测部连接的电阻抗信号接收器，优选地还包括与进样部连接的加样器和/或与电阻抗信号接收器连接的电阻抗信号分析器。

12.一种分离和检测颗粒物的方法，其使用权利要求1至9任一项所述微流控芯片和/或权利要求10或11所述电阻抗检测装置。