[发明专利]拉曼光谱特征峰的定位方法、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种拉曼光谱特征峰的定位方法，其特征在于，包括：

获取待测物质的有效拉曼光谱数据；

对所述有效拉曼光谱数据进行波动阈值提取操作，获取表征所述有效拉曼光谱数据的光谱强度波动特性的波动阈值，并将所述波动阈值作为所述有效拉曼光谱数据对应的特征峰识别阈值；

从所述有效拉曼光谱数据中获取光谱强度大于所述特征峰识别阈值的采样点位置，将获取的所述采样点位置作为所述有效拉曼光谱数据中特征峰的位置。

2.根据权利要求1所述的拉曼光谱特征峰的定位方法，其特征在于，所述获取待测物质的有效拉曼光谱数据，包括：

获取所述待测物质的修正拉曼光谱数据，所述修正拉曼光谱数据中各采样点的光谱强度位于预设的标准范围内；

对所述修正拉曼光谱数据进行波动阈值提取操作，获取所述修正拉曼光谱数据的光谱强度波动阈值作为过滤阈值；

根据所述过滤阈值，去除所述修正拉曼光谱数据中的干扰信号，生成所述有效拉曼光谱数据。

3.根据权利要求1至2中任一项所述的拉曼光谱特征峰的定位方法，其特征在于，所述波动阈值提取操作，包括：

获取第n次待提取的拉曼光谱数据的均值作为第n次均值，以及获取第n次待提取的拉曼光谱数据的均方根作为第n次均方根，n为大于或等于1的整数；

根据所述第n次均值和所述第n次均方根，确定第n次待提取的拉曼光谱数据的光谱强度阈值作为第n次波动阈值；

若检测到n大于或等于预设次数，则将所述第n次波动阈值作为提取到的光谱强度波动阈值；

若检测到n小于所述预设次数，则根据第n次波动阈值从所述第n次待提取的拉曼光谱数据中提取出n+1次待提取的拉曼光谱数据；更新n的值为n+1，并返回执行获取第n次待提取的拉曼光谱数据的均值作为第n次均值，以及获取第n次待提取的拉曼光谱数据的均方根作为第n次均方根的步骤。

4.根据权利要求3所述的拉曼光谱特征峰的定位方法，其特征在于，所述根据所述第n次均值和所述第n次均方根，确定第n次待提取的拉曼光谱数据的光谱强度阈值作为第n次波动阈值，包括：

根据预设的波动阈值表达式、所述第n次均值和所述第n次均方根，获得所述第n次波动阈值；

所述波动阈值表达式为：Spc_n_Thd＝Spc_n_mean+K*Spc_n_std，其中，Spc_n_Thd表示为所述第n次波动阈值，Spc_n_mean表示所述第n次均值，Spc_n_std表示所述第n次均方根，K表示加权系数，K为正数。

5.根据权利要求2所述的拉曼光谱特征峰的定位方法，其特征在于，所述根据所述过滤阈值，去除所述修正拉曼光谱数据中的干扰信号，生成所述有效拉曼光谱数据，包括：

获取所述修正拉曼光谱数据中光谱强度小于所述过滤阈值的采样点作为待处理采样点；

获取所述待处理采样点的邻域；

更新所述待处理采样点的光谱强度为所述邻域内光谱强度的均值；

将更新后的所述待处理采样点和大于等于所述过滤阈值的采样点组合形成所述有效拉曼光谱数据。

6.根据权利要求5所述的拉曼光谱特征峰的定位方法，其特征在于，所述获取所述待处理采样点的邻域，包括：

获取以所述待处理采样点为中心，且相距所述待处理采样点预设采样点数的区域；

将获取的所述区域作为所述待处理采样点的邻域。

7.根据权利要求2所述的拉曼光谱特征峰的定位方法，其特征在于，所述获取所述待测物质的修正拉曼光谱数据，包括：

采集所述待测物质的初始拉曼光谱数据；

去除所述初始拉曼光谱数据的基线；

对去除基线的所述初始拉曼光谱数据进行归一化数据，获得所述修正拉曼光谱数据。

8.根据权利要求3所述的拉曼光谱特征峰的定位方法，其特征在于，所述预设次数为3。