[发明专利]佩戴检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质有效

专利信息
申请号: 202110731680.4 申请日: 2021-06-29
公开(公告)号: CN113453122B 公开(公告)日: 2023-04-25
发明(设计)人: 张硕 申请(专利权)人: 歌尔科技有限公司
主分类号: H04R3/00 分类号: H04R3/00;H04R1/10
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 晏波
地址: 266104 山东省青岛*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 佩戴 检测 方法 装置 设备 计算机 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种佩戴检测方法,其特征在于,所述佩戴检测方法应用于集成有电容传感器的入耳装置,所述佩戴检测方法包括以下步骤:

获取预存的实验电容值,并通过所述电容传感器获取初始电容值;

根据所述初始电容值和所述实验电容值,确定电容阈值,所述电容阈值包括上限电容值和下限电容值;

获取当前时刻的目标电容值,根据所述目标电容值与所述电容阈值的大小关系,确定所述入耳装置在所述当前时刻的佩戴状态;

所述获取当前时刻的目标电容值的步骤之后,包括:

若所述目标电容值小于所述初始电容值,则调整所述上限电容值和所述下限电容值,所述初始电容值为所述入耳装置在出厂阶段之前未佩戴时检测到的电容值;

所述调整所述上限电容值和所述下限电容值,包括:

将所述入耳装置的所述上限电容值和所述下限电容值同步下调一定的值。

2.如权利要求1所述的佩戴检测方法,其特征在于,所述根据所述初始电容值和所述实验电容值,确定电容阈值的步骤包括:

获取所述实验电容值中标记为佩戴状态的实验电容值,根据所述标记为佩戴状态的实验电容值,确定上限电容值;

获取所述实验电容值中标记为未佩戴状态的实验电容值,根据所述标记为未佩戴状态的实验电容值,确定下限电容值,其中,所述下限电容值大于所述初始电容值,定义电容阈值包括所述上限电容值和所述下限电容值。

3.如权利要求2所述的佩戴检测方法,其特征在于,所述获取当前时刻的目标电容值的步骤之后,包括:

若所述目标电容值大于或等于所述初始电容值,则执行所述根据所述目标电容值与所述电容阈值的大小关系,确定所述入耳装置在所述当前时刻的佩戴状态的步骤。

4.如权利要求2所述的佩戴检测方法,其特征在于,所述根据所述目标电容值与所述电容阈值的大小关系,确定所述入耳装置在所述当前时刻的佩戴状态的步骤包括:

若所述目标电容值大于所述上限电容值,则确定所述入耳装置在所述当前时刻处于佩戴状态;

若所述目标电容值小于所述下限电容值,则确定所述入耳装置在所述当前时刻处于未佩戴状态。

5.如权利要求2所述的佩戴检测方法,其特征在于,所述根据所述目标电容值与所述电容阈值的大小关系,确定所述入耳装置在所述当前时刻的佩戴状态的步骤,还包括:

若所述目标电容值属于缓冲区间,则获取所述当前时刻之前的电容走势,以及目标时刻与所述当前时刻之间的历史电容值,其中,所述缓冲区间的极小值是所述下限电容值,所述缓冲区间的极大值是所述上限电容值,所述目标时刻在所述当前时刻之前;

定义所述缓冲区间包括高缓冲区间和低缓冲区间,若所述电容走势为下降走势,且所述历史电容值处于所述高缓冲区间,则确定所述入耳装置在所述当前时刻处于佩戴状态,并调整所述上限电容值;

若所述电容走势为下降走势,且所述历史电容值处于所述低缓冲区间,则确定所述入耳装置在所述当前时刻处于未佩戴状态,并调整所述下限电容值。

6.如权利要求5所述的佩戴检测方法,其特征在于,所述若所述目标电容值属于缓冲区间,则获取所述当前时刻之前的电容走势,以及目标时刻与所述当前时刻之间的历史电容值的步骤之后,包括:

若所述电容走势为上升走势,且所述历史电容值处于所述高缓冲区间,则确定所述入耳装置在所述当前时刻处于佩戴状态,并调整所述上限电容值;

若所述电容走势为上升走势,且所述历史电容值处于所述低缓冲区间,则确定所述入耳装置在所述当前时刻处于未佩戴状态,并调整所述下限电容值。

7.如权利要求6所述的佩戴检测方法,其特征在于,所述获取当前时刻的目标电容值,根据所述目标电容值与所述电容阈值的大小关系,确定所述入耳装置在所述当前时刻的佩戴状态的步骤之后,包括:

当所述入耳装置从所述佩戴状态变为所述未佩戴状态时,将所述入耳装置的音频输出功能从开启状态调整为关闭状态。

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