[发明专利]检测电路和电子设备

说明书

本申请公开了一种检测电路和电子设备，检测电路用于电子设备，电子设备包括多个金属搭接结构，检测电路包括：多条测试电路和处理器，一条测试电路与一个金属搭接结构对应设置，测试电路包括：接收天线组件和接收器，接收天线组件连接于金属搭接结构，用于接收金属搭接结构激发的谐波信号；接收器的一端与接收天线组件连接，接收器用于接收接收天线组件的谐波信号；处理器的一端与接收器的另一端连接，处理器用于对谐波信号进行处理，得到每个金属搭接结构对应的谐波信号的波动幅度，并根据谐波信号的波动幅度从多个金属搭接结构中确定引起谐波信号波动最大的目标金属搭接结构。

技术领域

本申请属于电子设备技术领域，具体涉及一种检测电路和电子设备。

背景技术

目前，电子设备内部通常设有较多的金属搭接结构，在实际应用中，金属搭接结构通常包括两个金属件以及两个金属件之间的不规则接触面(例如射频屏蔽罩和主板支架，摄像头导电布和铝镁合金背板等)。在通讯系统中，不规则接触面容易引起电子设备出现PIM(无源交调)的问题，PIM又可能引起RSE(杂散辐射)的问题，降低电子设备的灵敏度，导致阻塞通信，有时候还可能会影响产生PIM的通信蜂窝以及附近的其他电子设备，因此，准确定位引起RSE超标的金属搭接结构，并对金属搭接结构进行改善，以减弱RSE超标变得尤为重要。

在先技术中，在定位引起RSE超标的金属搭接结构时，通常将电子设备放在RSE测试环境中，使用非金属锤敲击电子设备的不同部位，查看在敲击的过程中引起RSE幅度波动的位置，逐步定位引起RSE超标的金属搭接结构的位置。然而，这种检测方式导致定位引起RSE超标的金属搭接结构的速度较慢，精准度较低，耗时较长。

申请内容

本申请旨在提供一种检测电路和电子设备，至少解决现有技术中定位引起RSE超标的目标金属搭接结构的速度较慢，精准度较低，耗时较长的问题之一。

为了解决上述技术问题，本申请是这样实现的：

第一方面，本申请实施例提出了一种检测电路，用于电子设备，所述电子设备包括多个金属搭接结构，所述检测电路包括：多条测试电路和处理器，一条所述测试电路与一个所述金属搭接结构对应设置，所述测试电路包括：接收天线组件和接收器，其中，

所述接收天线组件连接于所述金属搭接结构，用于接收所述金属搭接结构激发的谐波信号；

所述接收器的一端与所述接收天线组件连接，所述接收器用于接收所述接收天线组件的谐波信号；

所述处理器的一端与所述接收器的另一端连接，所述处理器用于对所述谐波信号进行处理，得到每个所述金属搭接结构对应的所述谐波信号的波动幅度，并根据所述谐波信号的波动幅度从多个所述金属搭接结构中确定引起所述谐波信号波动最大的目标金属搭接结构。

第二方面，本申请实施例提出了一种电子设备，包括：上述检测电路。

在本申请的实施例中，所述测试电路中的接收天线组件可以接收金属搭接结构激发的谐波信号，并发送至接收器，然后，接收器可以将谐波信号发送至处理器，处理器可以对谐波信号处理并获取谐波信号的波动幅度。由于一条所述测试电路可以与一个所述金属搭接结构对应设置，这样，处理器可以获取多个金属搭接结构对应的谐波信号的波动幅度，确定波动幅度最大的谐波信号对应的目标金属搭接结构，进而快速并精准地定位引起RSE超标的目标金属搭接结构，耗时较短。

本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

附图说明

本申请的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本申请实施例的一种检测电路的结构示意图；

图2是本申请实施例的一种接收天线组件的结构示意图；