[发明专利]数据保护位的验证方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种数据保护位的验证方法，用于验证NOR Flash的数据保护位，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

S1、枚举状态寄存器的数据保护位的所有组合，获取每种组合中数据保护位保护的具体区域地址；

S2、设计验证范式，根据验证范式循环遍历每种组合生成对应的测试用例；

S3、仿真遍历每个测试用例生成报告文件，并根据报告文件校验待测芯片中状态寄存器的数据保护位。

2.根据权利要求1所述的一种数据保护位的验证方法，其特征在于，步骤S3中的数据保护位验证成功的条件为：数据保护位的组合所保护的区域不可执行写入和擦除操作，数据保护位的组合未保护的区域可执行写入和擦除操作。

3.根据权利要求1所述的一种数据保护位的验证方法，其特征在于，步骤S3中仿真遍历每个测试用例后，所述报告文件基于仿真结果生成。

4.根据权利要求1所述的一种数据保护位的验证方法，其特征在于，所述报告文件中包含关于数据保护位的组合所保护的区域是否不可执行写入和擦除操作的第一操作信息，以及关于数据保护位的组合未保护的区域是否可执行写入和擦除操作的第二操作信息。

5.根据权利要求4所述的一种数据保护位的验证方法，其特征在于，若有测试用例的报告文件符合第一操作信息结果为是和/或第二操作信息结果为否时，发布修改设计提示。

6.根据权利要求1所述的一种数据保护位的验证方法，其特征在于，数据保护位保护的具体区域地址通过NOR Flash的设计规格书获取，并写入相应测试用例中。

7.一种数据保护位的验证装置，用于验证NOR Flash的数据保护位，其特征在于，包括：

枚举模块，用于枚举状态寄存器的数据保护位的所有组合；

获取模块，用于获取数据保护位保护的具体区域地址；

用例生成模块，用于设计验证范式并根据验证范式循环遍历每种组合生成测试用例；

仿真验证模块，用于仿真验证待测芯片中状态寄存器的数据保护位；

所述获取模块获取枚举模块枚举的每种组合中的数据保护位保护的具体区域地址，所述用例生成模块结合枚举模块枚举的组合、获取模块获取的数据保护位保护的具体区域地址并基于验证范式生成相应的与组合数量一致的测试用例，所述仿真测试模块通过仿真遍历每个测试用例以生成报告文件并基于报告文件校验待测芯片中状态寄存器的数据保护位。

8.根据权利要求7所述的一种数据保护位的验证装置，其特征在于，所述仿真验证模块包括：

仿真模块，用于根据测试用例进行仿真并生成仿真结果；

报告模块，用于根据仿真模块的仿真结果生成报告文件；

验证分析模块，用于验证分析报告模块生成的报告文件以校验待测芯片中状态寄存器的数据保护位。

9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器以及存储器，所述存储器存储有计算机可读取指令，当所述计算机可读取指令由所述处理器执行时，运行如权利要求1-6任一所述方法中的步骤。

10.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时运行如权利要求1-6任一所述方法中的步骤。