[发明专利]电路检查装置

说明书

本发明涉及电路检查装置，更详细地说，涉及在电子产品的制造工艺中用于导通检查及运行特性检查的电路检查装置。本发明公开了一种电路检查装置，包括：容纳夹具(100)，在上部形成有排成一列的多个容纳槽(110)；多个探针(1)，安装在所述多个容纳槽(110)；主体部(200)，结合于所述容纳夹具(100)，并且形成有与所述多个容纳槽(110)对应的开口部(210)，以使探针(1)的至少一部分暴露到上侧。

技术领域

本发明涉及电路检查装置，更详细地说，涉及在电子产品的制造工艺中用于导通检查及运行特性检查的电路检查装置。

背景技术

对于相机或者液晶面板等的电子产品模块，在其制造工艺中执行导通检查及运行特性检查等，为了实施这种检查，使用探针连接用于与设置在电子产品模块的主体基板连接的FPC接触电极或者装贴的基板对基板连接器等的电极部与检查装置。

即，在连接电子产品模块内的电极部和检查装置时，可灵活利用探针电连接电极部和检查装置，此时探针在电子产品模块的电极端子和检查装置之间通过适当的接触压力可稳定接触。

另一方面，利用如上所述的探针的电路检查装置在以往使用了包括弹簧的弹簧针，但是在该情况下，检查对象和检查装置之间的通电路径增加，进而增加电阻，据此存在要求高电力的问题。

另外，以往的利用探针的电路检查装置在探针或者弹簧针结合于插座内部的状态下模块化来制作及出厂，因此存在在一部分探针或者弹簧针存在缺陷或者受损的情况下需要将整个模块更换的问题。

另外，电路检查装置均匀配置多个探针，进而存在在通过电接触改善特性上存在局限性的问题。

另一方面，近来用于高画质显示、IOT、自动行驶汽车等的高速传输数据的技术必要性增加。

在1Gbps以上的高速数据传输中探针应由差分(differential)信号构成，而非通常方式的单端(single ended)方式，而且阻抗匹配根据各个频带分别的探针和包围该探针的模块而发生变化。

此时，根据各种状况进行阻抗匹配是必须的，为此需要通过HFSS仿真等将频率的共振区间最小化的过程。

发明内容

本发明的目的在于，为了解决如上所述的本发明的问题，提供一种提高检查对象和检查装置之间的接触可靠性的同时接触电阻低的电路检查装置。

本发明是为了达到如上所述的目的而提出的，本发明公开了一种电路检查装置，包括：容纳夹具100，在上部形成有排成一列的多个容纳槽110；多个探针1，安装在所述多个容纳槽110；主体部200，结合于所述容纳夹具100，并且形成有与所述多个容纳槽110对应的开口部210，以使探针1的至少一部分暴露到上侧。

所述多个容纳槽110为以长度方向横跨所述容纳夹具100的宽度中心的虚拟中心线L为基准能够以长度方向左右对称形成。

所述多个容纳槽110为以长度方向横跨所述容纳夹具100的宽度中心的虚拟中心线L为基准能够以长度方向在平面上左右错开的交替形成。

所述多个容纳槽110针对所述容纳夹具100的长度方向能够以垂直方向形成。

所述容纳夹具100还可包括第一容纳槽120及第二容纳槽130，所述第一容纳槽120及第二容纳槽130在两端针对所述多个容纳槽110以垂直方向形成，以分别容纳单一探针1。

所述电路检查装置可包括盖部300，所述盖部300设置成在所述主体部200的上侧能够以上下方向移动，通过加压的上下移动将所述探针1的至少一部分暴露到上侧。

所述盖部300可包括：盖板310，对应于所述多个容纳槽110形成有多个开口槽311；多个弹性体320，配置在所述盖板310和所述主体部200之间，通过压缩及恢复力可上下移动所述盖板310。