[发明专利]一种端口阻抗自动仿真测试方法有效
| 申请号: | 202110721203.X | 申请日: | 2021-06-28 |
| 公开(公告)号: | CN113625678B | 公开(公告)日: | 2022-08-12 |
| 发明(设计)人: | 徐伟;杨依衡;赵洋;孙俊阳;谢霞明;韩业华 | 申请(专利权)人: | 上海空间电源研究所 |
| 主分类号: | G05B23/02 | 分类号: | G05B23/02;G01R27/02 |
| 代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 高志瑞 |
| 地址: | 200245 *** | 国省代码: | 上海;31 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 端口 阻抗 自动 仿真 测试 方法 | ||
本发明公开了一种端口阻抗自动仿真测试方法,其依次在被测电路的各端口施加电压,求相应的端口电流,进而根据欧姆定律计算各端口的等效阻抗。所述端口阻抗自动仿真测试方法首先将被测电路中的有源器件置零,并为被测电路的各个端子分配唯一且固定的网络标识号。然后,根据测试需求,列出测试序列。进一步,在电路仿真图中引入一个专门用来测量电路端口阻抗的独立电压源,并根据测试序列为其正负端子分配网络标识号。通过匹配独立电压源端子与被测电路端子的网络标识号,使其实现电气连接。本发明提高了获取阻抗值的效率。同时避免了因手动分析或计算错误导致的误差,提高了所获取的端口阻抗值的准确率。
技术领域
本发明属于航天电源技术领域,尤其涉及一种端口阻抗自动仿真测试方法。
背景技术
在航天电源控制器功能测试中,加电前,常通过测量电路端口阻抗来判断电路中是否存在故障。使用该方法时,首先计算端口阻抗的理论值。在此基础上,将实测值与理论值进行对比,找出异常值。传统的获取端口阻抗理论值的方法为:利用电路原理知识,依次将各端口视为输入端口,手动分析从各端口看进去的等效电路,进而计算各端口的等效阻抗。该方式耗时长,在电路复杂时,还容易出现计算分析不正确的情况。
发明内容
本发明解决的技术问题是:克服现有技术的不足,提供了一种端口阻抗自动仿真测试方法,自动获取电路中各端口的阻抗值,提高了获取阻抗值的效率。同时避免了因手动分析或计算错误导致的误差,提高了所获取的端口阻抗值的准确率。
本发明目的通过以下技术方案予以实现:一种端口阻抗自动仿真测试方法,所述方法包括如下步骤:步骤1:将被测电路中所有有源器件置零;步骤2:依次为被测电路中的各个端子分配唯一且固定的网络标识号;步骤3:用被测电路中两个端子网络标号表示一个端口,制定端口阻抗测试序列;步骤4:添加一个专门用来测量电路端口阻抗的独立电压源Vs,并为独立电压源的正负端子分别分配网络标识号Ni、Nj,使得(Ni,Nj)=Tu,其中,u表示当前需要测试的端口序号;步骤5:实时记录独立电压源Vs的端口电压Ui,j和端口电流Ii,j,实时计算被测电路中Ni、Nj两端子组成端口的等效阻抗Zi,j;步骤6:实时判断被测电路中Ni、Nj两端子组成端口的等效阻抗Zi,j的取值是否满足收敛条件;若等效阻抗Zi,j未收敛,则返回步骤5,若等效阻抗Zi,j已收敛,则执行步骤7;步骤7:记录当前时刻算得的Zi,j,作为第u个端口的阻抗测试序号Tu对应的被测端口的等效阻抗;步骤8:判断端口阻抗测试序列是否已经执行完毕,即u是否等于n;若u=n,则表示已经执行完毕,此时结束测试。
上述端口阻抗自动仿真测试方法中,还包括:若u不等于n,则令u=u+1,改变独立电压源端子Ni、Nj的取值,使得(Ni,Nj)=Tu。
上述端口阻抗自动仿真测试方法中,在步骤1中,被测电路中所有有源器件置零为所有电压源短路且所有电流源开路。
上述端口阻抗自动仿真测试方法中,在步骤2中,第k个端子的网络标识号记为Nk。
上述端口阻抗自动仿真测试方法中,在步骤3中,端口阻抗测试序列为TS={T1=(Na,Nb),T2=(Nc,Nd),…,Tn=(Np,Nq};其中,n为待测端口的总个数,T1为第1个端口的阻抗测试序号,Na为第a个端子的网络标识号,Nb为第b个端子的网络标识号,T2为第2个端口的阻抗测试序号,Nc为第c个端子的网络标识号,Nd为第d个端子的网络标识号,Tn为第n个端口的阻抗测试序号,Np为第p个端子的网络标识号,Nq为第q个端子的网络标识号。
上述端口阻抗自动仿真测试方法中,在步骤5中,被测电路中Ni、Nj两端子组成端口的等效阻抗Zi,j通过如下公式得到:Zi,j=Ui,j/Ii,j。
上述端口阻抗自动仿真测试方法中,在步骤6中,收敛条件为:当Zi,j的变化率小于预设常数δ或仿真时间大于等于预设时间T0时,认为Zi,j已经收敛,否则,认为其没有收敛。
本发明与现有技术相比具有如下有益效果:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海空间电源研究所,未经上海空间电源研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110721203.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





