[发明专利]一种深低温环境下模拟月壤反射光谱测量装置及方法

权利要求书

1.一种深低温环境下模拟月壤反射光谱测量装置，其特征在于，包括深低温真空容器(100)；所述深低温真空容器(100)的内部设有光谱测量设备(200)和照明光源(210)，外部设有接收组件；所述光谱测量设备(200)位于保温保压的舱体(220)内；所述舱体(210)上对应所述光谱测量设备(200)设有观察窗；所述照明光源(210)安装在所述舱体(220)的外部，位于所述观察窗处。

2.根据权利要求1所述的深低温环境下模拟月壤反射光谱测量装置，其特征在于，所述接收装置包括上位机(300)和温度采集设备(310)；所述上位机(300)与所述光谱测量设备(200)和照明光源(210)电连接。

3.根据权利要求2所述的深低温环境下模拟月壤反射光谱测量装置，其特征在于，所述深低温真空容器(100)内还设有托盘(400)；所述托盘(400)位于所述观察窗下方，用于盛放模拟月壤；所述模拟月壤内设有与所述温度采集设备(310)电连接的温度传感器(410)。

4.根据权利要求1所述的深低温环境下模拟月壤反射光谱测量装置，其特征在于，所述深低温真空容器(100)的内部为10^-3Pa量级的真空环境，温度低于-250℃。

5.根据权利要求1所述的深低温环境下模拟月壤反射光谱测量装置，其特征在于，所述光谱测量设备(200)的波长测量范围是380nm-780nm。

6.根据权利要求1所述的深低温环境下模拟月壤反射光谱测量装置，其特征在于，所述观察窗在380nm-780nm波长范围内的光谱透过率大于0.9，并能承受至少一个大气压的压差。

7.一种包括权利要求1-6任一项所述的深低温环境下模拟月壤反射光谱测量装置的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

对应光谱测量设备(200)放置标准反射率白板，其反射率光谱曲线为r₀(λ)；

常温常压环境下，开启照明光源，获取光谱测量设备(200)的输出信号V₀(λ)；

对应光谱测量设备(200)放置模拟月壤，其反射率光谱曲线为r(λ)；

真空深低温环境下，开启照明光源，获取光谱测量设备(200)的输出信号V₁(λ)；

根据公式：

V₀(λ)＝E(λ)*r₀(λ)*O(λ)*R(λ)；

V₁(λ)＝E(λ)*r(λ)*O(λ)*R(λ)；

其中E(λ)为照明光源的辐射度，O(λ)为观察窗及光谱测量设备光学系统的光谱响应曲线，R(λ)为光谱测量设备(200)电子学系统的光谱响应曲线；

因此，深低温环境下模拟月壤的反射率光谱r(λ)为：