[发明专利]用于测量开关设备的接触件的参数的接触测量系统和方法

说明书

本发明涉及用于测量开关设备的接触件的参数的接触测量系统和方法，具体而言涉及一种用于测量开关设备的接触件的参数的接触测量系统，包括构造成测量接触件的电阻并且在空间上且/或动态地映射该电阻的第一装置；构造成测量接触件的轴向力并且在空间上且/或动态地映射该轴向力的第二装置；以及构造成测量接触件的位置的第三装置；其中该接触测量系统构造成基于所测量的接触件的轴向力和接触件的位置来确定取决于位置的力特性；其中接触测量系统构造成基于取决于位置的力特性与接触件的电阻的组合来确定接触件的状态。

技术领域

本发明涉及用于LV开关设备中的阴接触件的检查任务的测试装置。特别地，本发明涉及用于测量开关设备的接触件的参数的接触测量系统和方法。

背景技术

因为开关设备的阴接触件和阳接触件易于遭受电磨损和机械磨损，所以需要在计划的维护间隔中检查它们。因此，需要一种测试方法来推断接触件情况。

主要需要检查阴接触件，因为该接触件包括确保良好导电的薄片(lamella，有时称为瓣状件)。

受到关注的两个主要参数是：

电阻以及接触力。太高的电阻将导致电损和过度的发热。低接触力将在短路事件期间导致差的接触性能，因为在这样的事件期间大的力可导致接触件的物理分离，因此导致形成电弧。

作为太低的接触力的间接影响是接触电阻的增加。需要解决这些问题。

发明内容

因此，将为有利的是，具有改善的技术以测量开关设备的接触件。

利用独立权利要求的主题来解决本发明的目的，其中进一步的实施例并入在从属权利要求中。

在第一方面，提供了一种用于测量开关设备的接触件的参数的接触测量系统，包括构造成测量接触件的电阻并且在空间上且/或动态地映射(map)该电阻的第一装置；构造成测量接触件的轴向力并且在空间上且/或动态地映射该轴向力的第二装置；以及构造成测量接触件的位置的第三装置；其中接触测量系统构造成基于所测量的接触件的轴向力和接触件的位置来确定取决于位置的力特性；其中接触测量系统构造成基于取决于位置的力特性与接触件的电阻的组合来确定接触件的状态。

以此方式，提供了测试装置，该测试装置实现虽然根据现有技术通过在从连接中拔出阳接触件时测量峰值滑动力来监视接触件情况，并且实现改善的测量。任何接触件的情况能够由三种单独的测量限定：视觉检查、电阻测量和接触力测量。本测量系统允许电阻、轴向力和位置的综合的且由此组合的测量。

以此方式，提供了测试装置，该测试装置实现接触品质的测量：将滑动力相对于位置的测量与电阻的测量组合起来。

本发明实现给出接触品质的指示；由于现场情况引起的污染、老化和润滑具有对接触品质的影响，并且将通过组合滑动力相对于位置的测量与电阻的测量来识别由于现场情况引起的污染、老化和润滑对接触品质的影响。

由此，能够得到取决于位置的力特性。电阻和力/位置特性的组合允许薄片和当前情况的大体状态的合适的现场检查。

所提出的解决方案也动态地映射接触力(滑动力或径向力)，即映射在插入和/或拔出阳测试销时接触力与位置的关系。

测试销类似于在中压开关设备中使用的销，但可采用该测试销以支持测量。在操作期间接触件的性能主要由径向力确定。

在第二方面中，提供了一种所公开的方法，该方法允许从该动态测量中提取关于接触件情况的各种信息。