[发明专利]双线型像质计可识别率的测量方法、系统、设备和介质

说明书

本发明公开了一种双线型像质计可识别率的测量方法、系统、设备和介质，所述方法包括：在待测双丝图像的双线型像质计区域画一条辅助线，并确定待测双丝图像的叠加平均行数；其中，所述叠加平均行数为大于或等于21的奇数；根据所述辅助线，在所述待测双丝图像中截取行数为所述叠加平均行数的双丝图像，得到截取后双丝图像；根据所述截取后双丝图像，得到调整后双丝灰度变化曲线；根据所述调整后双丝灰度变化曲线，计算每一线对的可识别率，得到所述待测双丝图像的分辨率。本发明提供的方法可以自动寻找双丝排列方向，对画线角度没有严格要求，降低了工人画线要求，有效提高了工作效率。

技术领域

本发明涉及图像自动测量研究领域，特别是涉及一种双线型像质计可识别率的测量方法、系统、设备和介质。

背景技术

双线型像质计是13对金属丝固定在一个塑料板上的专用测量图像分辨率的配件，将其贴在任何X射线可以穿透成像的物体上，拍一张X射线图像。X射线图中有双线型像质计即可测量该图像分辨率。

根据国家标准NB/T 47013.11-2015《承压设备无损检测第11部分：X射线数字成像检测》，图像分辨率采用双线型像质计进行测定，双线型像质计图像中第一组可识别率不大于20％的线对，即为要求的最小分辨率。

目前大部分带有X射线图像分辨率测量的软件均具有双线型像质计自动识别率测量功能，但一般都要求操作人员在图像中的双线型像质计区域画一条垂直于双线型像质计的直线，这需要人工反复仔细调整画线方向，导致X射线图像分辨率不仅测量效率低，而且，手工所画直线与丝对垂直度的误差将直接影响X射线图像分辨率测量的准确度。

发明内容

为了解决上述现有技术的不足，本发明提供了一种双线型像质计可识别率的测量方法、系统、设备和介质，该方法可以自动寻找双线型像质计方向并确定丝线间距，能有效降低工人画线要求，极大地提高工人的工作效率。

本发明的第一个目的在于提供一种双线型像质计可识别率的测量方法。

本发明的第二个目的在于提供一种双线型像质计可识别率的测量系统。

本发明的第三个目的在于提供一种计算机设备。

本发明的第四个目的在于提供一种存储介质。

本发明的第一个目的可以通过采取如下技术方案达到：

一种双线型像质计可识别率的测量，所述方法包括：

在待测双丝图像的双线型像质计区域画一条辅助线，并确定待测双丝图像的叠加平均行数；其中，所述叠加平均行数为大于或等于21的奇数；

根据所述辅助线，在所述待测双丝图像中截取行数为所述叠加平均行数的双丝图像，得到截取后双丝图像；

根据所述截取后双丝图像，得到调整后双丝灰度变化曲线；

根据所述调整后双丝灰度变化曲线，计算每一线对的可识别率，得到所述待测双丝图像的分辨率。

进一步的，所述根据所述截取后双丝图像，得到调整后双丝灰度变化曲线，具体包括：

根据所述截取后双丝图像，得到双丝灰度变化曲线；

根据所述双丝灰度变化曲线，得到调整后的双丝灰度变化曲线。

进一步的，所述截取后双丝图像为imgs(i,j)；

所述根据所述截取后双丝图像，得到双丝灰度变化曲线，具体为：

根据下式，计算双丝灰度变化曲线q(i)：

其中，w为所述叠加平均行数。