[发明专利]一种芯片烧录测试设备

说明书

本发明涉及一种芯片烧录测试设备，所述设备用以烧录或测试多个芯片，多个芯片被各自放置于托盘中的多个凹槽内；且芯片具有多个接脚，所述芯片烧录测试设备包括：座体；设置在所述座体上的轨道机构，包括两根平行轨道，用于将所述托盘卡接至所述平行轨道之间；托盘中的凹槽的底部具有多个通孔；探针板，与托盘紧贴设置，探针板包括多个探针；探针板上的探针与托盘中的凹槽底部的通孔一一对应；且所述探针板的上探针穿过托盘中的凹槽底部的通孔，并在所述托盘的凹槽底部透出，并与托盘凹槽底部的芯片上的接脚接触；设置在所述座体上的主机装置，与探针板电性连接；所述主机装置用以在芯片的接脚接触探针时，对多个芯片进行测试或数据烧录。

技术领域

本发明涉及芯片测试和芯片烧录技术领域，尤其涉及一种芯片烧录测试设备。

背景技术

目前芯片在烧录或测试过程中，芯片的烧录或测试的时一次只能针对一个芯片进行。虽然，现有的技术中有设备可以实现多个芯片同时进行测试或烧录，但是在现有的设备中，需要将各个芯片放到载具上，然后再进行翻转，然后使各个芯片的接脚与探针接触，因此，需要费较长时间，同时，在芯片的翻转过程中，芯片的位置也相对容易改变，为下一步骤造成困难。

发明内容

(一)要解决的技术问题

鉴于现有技术的上述缺点、不足，本发明提供一种芯片烧录测试设备。

(二)技术方案

为了达到上述目的，本发明采用的主要技术方案包括：

第一方面，本发明实施例提供一种芯片烧录测试设备，用以烧录或测试多个芯片，多个芯片被各自放置于托盘中的多个凹槽内；且芯片具有多个接脚，所述芯片烧录测试设备包括：

座体；

设置在所述座体上的轨道机构，包括两根平行轨道，用于将所述托盘卡接至所述平行轨道之间；

所述托盘中的凹槽的底部具有多个通孔；

其中，所述通孔与所述芯片的接脚一一对应；

探针板，与所述托盘紧贴设置，所述探针板包括多个探针；

其中，所述探针板上的探针与所述托盘中的凹槽底部的通孔一一对应；且所述探针板的上探针穿过所述托盘中的凹槽底部的通孔，并在所述托盘的凹槽底部透出，并与所述托盘凹槽底部的芯片上的接脚接触；

设置在所述座体上的主机装置，与所述探针板电性连接；所述主机装置用以在芯片的接脚接触探针时，对所述多个芯片进行测试或数据烧录。

优选的，

所述探针板上具有插头；

所述插头通过信号线缆与所述探针板电连接。

优选的，

所述设备还具有驱动装置，用于驱动轨道机构上的托盘运行至预定位置；

所述主机装置上具有接头，用于在所述托盘运行至所述预定位置时，与所述探针板上的插头对应连接。

优选的，

所述主机装置上的接头为可伸缩接头；

在所述托盘运行至所述预定位置时，所述主机装置控制所述接头进行延伸，并与所述探针板上的插头对应连接；

在烧录或测试完成后，所述主机装置控制所述接头进行收缩，并与所述探针板上的插头分开。

优选的，

所述主机装置与所述驱动装置连接，用于在所述接头与所述探针板上的插头分开后，驱动所述托盘沿着所述平行轨道前进至预先设定的终点位置。

优选的，