[发明专利]存储装置掉电保护的测试方法、测试装置以及存储介质有效
| 申请号: | 202110699800.7 | 申请日: | 2021-06-23 |
| 公开(公告)号: | CN113257330B | 公开(公告)日: | 2021-10-01 |
| 发明(设计)人: | 周斌;刘佳;王于波;庞振江;王文赫;李延;梁昭庆 | 申请(专利权)人: | 北京智芯半导体科技有限公司 |
| 主分类号: | G11C29/12 | 分类号: | G11C29/12;G06F11/14 |
| 代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 肖冰滨;王晓晓 |
| 地址: | 102200 北京市昌平*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 存储 装置 掉电 保护 测试 方法 以及 介质 | ||
1.一种存储装置掉电保护的测试方法,其特征在于,所述方法包括:
获取预设测试流程和测试信息;
基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化,获得优化后测试流程;
获取预设测试参数,对所述预设测试参数进行优化,获得优化后测试参数;
基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程;
所述预设测试流程包括指令收发步骤,所述基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化,获得优化后测试流程,包括:
获取所述测试信息的时长信息;
获取存储装置的设计信息;
基于所述设计信息和所述时长信息获得与所述指令收发步骤对应的指令收发时段;
基于所述指令收发时段对所述预设测试流程进行优化,获得第一优化后测试流程;
将所述第一优化后测试流程作为所述优化后测试流程。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述设计信息包括第一掉电时间间隔,所述指令收发步骤包括指令接收步骤和指令发送步骤,所述基于所述设计信息和所述时长信息获得与所述指令收发步骤对应的指令收发时段,包括:
基于所述时长信息获取所述指令接收步骤的指令接收时间,以及获取所述指令发送步骤的指令发送时间;
基于所述第一掉电时间间隔和所述指令接收时间确定指令接收时段;
基于所述第一掉电时间间隔和所述指令发送时间确定指令发送时段;
基于所述指令接收时段和所述指令发送时段确定所述指令收发步骤对应的指令收发时段。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化,获得优化后测试流程,包括:
基于所述测试信息判断是否需要执行备份恢复操作;
在判断结果为不需要执行所述备份恢复操作的情况下,基于所述判断结果对所述预设测试流程进行优化,获得第二优化后测试流程;
将所述第二优化后测试流程作为所述优化后测试流程。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述测试信息包括掉电时刻,所述基于所述测试信息判断是否需要执行备份恢复操作,包括:
获取预设备份恢复时刻;
判断所述掉电时刻是否早于所述预设备份恢复时刻;
在所述掉电时刻早于所述预设备份恢复时刻的情况下,确定不需要执行所述备份恢复操作。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述获取预设备份恢复时刻,包括:
S2110)获取第一上电延时值和预设掉电步长;
S2111)基于所述第一上电延时值和所述预设掉电步长执行第一掉电测试操作;
S2112)重复执行步骤S2111),在首次获取到与所述第一掉电测试操作对应的第一指令超时反馈信息的情况下,获取与所述第一指令超时反馈信息对应的第一掉电时刻;
S2113)按照第一预设比值对所述预设掉电步长进行调整,获得调整后的预设掉电步长;
S2114)基于所述第一上电延时值和所述调整后的预设掉电步长执行第二掉电测试操作;
S2115)重复执行步骤S2113)-S2114),在首次获取到与所述第二掉电测试操作对应的第二指令超时反馈信息的情况下,获取与所述第二指令超时反馈信息对应的第二掉电时刻,所述第二掉电时刻早于所述第一掉电时刻;
S2116)判断所述第二掉电时刻是否符合预设临界要求;
S2117)在所述第二掉电时刻符合所述预设临界要求的情况下,将所述第二掉电时刻确定为预设备份恢复时刻。
6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述预设测试参数包括第二上电延时值,所述对所述预设测试参数进行优化,获得优化后测试参数,包括:
基于所述第二上电延时值执行所述备份恢复操作;
基于所述备份恢复操作确定最小上电延时值;
所述基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程,还包括:
基于所述最小上电延时值执行所述优化后测试流程。
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