[发明专利]一种幅值扫描系统有效

专利信息
申请号: 202110699236.9 申请日: 2021-06-23
公开(公告)号: CN113533863B 公开(公告)日: 2022-07-12
发明(设计)人: 俞俊生;姚远;于海洋;陈雨晴;陈晓东 申请(专利权)人: 北京邮电大学
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08;G01R29/14
代理公司: 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 代理人: 马敬;赵元
地址: 100876 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 扫描 系统
【说明书】:

本公开实施例提供了一种幅值扫描系统,该幅值扫描系统包括支撑板、第一馈源结构和第二馈源结构,支撑板水平设置;第一馈源结构与支撑板连接,第一馈源结构包括第一支架、第一接收馈源及第一射频电缆线,第一支架的一端与支撑板连接,另一端与第一接收馈源连接,第一射频电缆线用于连接第一接收馈源与测量仪表;第二馈源结构与支撑板连接,第二馈源结构包括第二支架、第二接收馈源及第二射频电缆线,第二支架的一端与支撑板连接,另一端与第二接收馈源连接,第二射频电缆线用于连接第二接收馈源与测量仪表;沿支撑板长边方向上第一馈源结构与第二馈源结构之间的距离可调,和/或沿支撑板宽边方向上第一馈源结构与第二馈源结构之间的距离可调。

技术领域

本公开涉及电磁波技术领域,特别是涉及一种幅值扫描系统。

背景技术

目前,由于仪表设备和射频连接线的性能影响,在电磁波测量过程中可以较为准确得到电场幅值,而无法准确得到电场的相位。具体的,在平面的机械扫描过程中,由于射频连接线会不断发生扭动从而导致测量接收相位发生无法预测的误差变化。为了解决上述问题,提出了一种无相位测量技术。无相位测量的基本原理是通过测量电场幅值,利用电场幅值的算法求解来推导出相位值。为了推导出相位值,常用的研究算法需要测量相距特定波长距离的两个平行平面上的幅值;一种特殊的研究算法需要测量一个平面上的幅值,并测量另一平行平面上通过透镜结构在透镜焦点上的幅值。基于此,为准确地推导出相位值,精确地测量两个平行平面上的幅值十分重要。

相关技术中,多通过单点步进方式或机械移动的方式来测量两个平行平面上的幅值。而由于扫描机械的移动精度误差,每次单点步进的启停都会造成位置误差从而无法准确得到预计位置的幅值数值大小,这使得单点步进方式测量出的幅值精确度较低。此外,由于测量的两个平行平面通常要求距离为正波长或半波长,在毫米波或太赫兹波频段,这种波长距离就会很小,如果通过机械移动的方法测量一个平面后再通过移动至另一个平行平面进行扫描,这种机械移动可能产生精度误差从而无法保证平行移动距离准确,从而导致测量电场值也不准确。因此,亟需一种能够快速、高效且准确的连续测量两个平行平面的幅值的幅值扫描系统。

发明内容

本公开实施例的目的在于提供一种幅值扫描系统,以实现快速、高效且准确的连续测量两个平行平面的幅值。具体技术方案如下:

本公开实施例的一方面提供了一种幅值扫描系统,所述幅值扫描系统包括:

支撑板,所述支撑板水平设置;

第一馈源结构,所述第一馈源结构与所述支撑板连接,所述第一馈源结构包括第一支架、第一接收馈源及第一射频电缆线,所述第一支架的一端与所述支撑板连接,所述第一支架的另一端与所述第一接收馈源连接,所述第一射频电缆线用于连接所述第一接收馈源与测量仪表;

第二馈源结构,所述第二馈源结构与所述支撑板连接,所述第二馈源结构包括第二支架、第二接收馈源及第二射频电缆线,所述第二支架的一端与所述支撑板连接,所述第二支架的另一端与所述第二接收馈源连接,所述第二射频电缆线用于连接所述第二接收馈源与所述测量仪表;

沿所述支撑板长边方向上所述第一馈源结构与所述第二馈源结构之间的距离可调,和/或沿所述支撑板宽边方向上所述第一馈源结构与所述第二馈源结构之间的距离可调。

一些实施例中,所述第二馈源结构还包括:

透镜支架,所述透镜支架的一端与所述支撑板连接;

透镜,所述透镜与所述透镜支架的另一端连接,且所述第二接收馈源的接收侧靠近所述透镜。

一些实施例中,所述第二接收馈源位于所述透镜的焦点处。

一些实施例中,所述第一馈源结构还包括第一馈源固定环,所述第一馈源固定环与所述第一支架固定连接,且所述第一馈源固定环套接在所述第一接收馈源外侧,以连接所述第一接收馈源及所述第一支架;

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