[发明专利]一种荧光传感器检测痕量Hg2+

说明书

本发明适用荧光传感器技术领域，提供一种荧光传感器检测痕量Hg²⁺的方法，包括以下步骤：水样品处理、合成水溶性Au@GQDs、样品检测、制备工作曲线、结果分析。本发明实施例采用水热法合成了新型Au@GQDs量子点纳米材料，并将其作为荧光量子点探针，利用Hg²⁺对Au@GQDs荧光猝灭作用，建立了测定痕量Hg²⁺的新方法，将此方法应用于实际样品中的Hg²⁺检测，获得令人满意的结果。此方法操作简单，快速，灵敏度高，重现性好。解决了现有检测Hg²⁺的方法灵敏度不够，前处理过程和较长的分析周期的问题。

技术领域

本发明属于荧光传感器技术领域，尤其涉及一种荧光传感器检测痕量Hg²⁺的方法。

背景技术

Hg²⁺是一种常见的重金属离子有毒污染物，工业废气、废水、废渣、化肥、农药、城市污垃圾等是Hg²⁺污染的主要来源。Hg²⁺很难被生物分解去除，Hg²⁺在水体、土壤和食物环境中的积累可能引起汞中毒，进而损伤人的中枢神经和器官，对人类健康造成严重的威胁。因此，对环境样品中痕量Hg²⁺进行检测和监控具有重要的意义。目前，检测Hg²⁺的方法主要有紫外分光光度法、原子吸收光谱法、原子发射光谱法等。但是紫外分光光度法灵敏度不够，无法满足痕量分析要求。而原子吸收光谱法和原子发射光谱法需要繁琐的前处理过程和较长的分析周期，无法做到快速分析。因此，发展一种简单、快速、灵敏的检测痕量Hg²⁺的新方法具有重要意义。

分子荧光分析法由于具有灵敏度高、样品前处理过程简单和快速等优势在重金属污染物检测方面应用广泛。对于分子荧光分析法而言，荧光探针的荧光性能是检测的关键。碳基量子点是一种新型的荧光试剂，常见的碳基量子点包括碳量子点(C-dots)、石墨烯量子点(GQDs)等，它们具有优良的发光强度、较高的量子产率等，在食品分析、重金属检测、医学分析等领域的荧光分析应用广泛。本文采用一步水热法合成高品质的金纳米@石墨烯量子点(Au@GQDs)，采用荧光光谱法对Au@GQDs材料的荧光性能进行研究，探讨了Hg2+对Au@GQDs的选择性荧光猝灭效应，并以量子点用作荧光探针，实现水环境中痕量Hg²⁺的快速、灵敏和选择性检测。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种荧光传感器检测痕量Hg2+的方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明实施例提供一种荧光传感器检测痕量Hg²⁺的方法，包括以下步骤：

水样品处理、合成水溶性Au@GQDs、样品检测、制备工作曲线、结果分析。

优选地，所述水样品处理的步骤为：取水样品，煮沸去掉表面的泡沫层；待水样冷却，将其进行过滤；由此得到的处理好的样品。

优选地，所述合成水溶性Au@GQDs的步骤为：称取柠檬酸和乙二胺充分溶解于去离子水中，反应结束后，紧接着，缓慢加入氯金酸，水浴加热和冷凝回流条件下反应，得到水溶性Au@GQDs；将制备好的Au@GQDs用PBS缓冲液定容刻度，备用。

优选地，所述合成水溶性Au@GQDs的步骤中：柠檬酸和乙二胺之间的质量比为3：2，使得浓度为0.5mol/L的氯金酸的体积为去离子水的1/10。

优选地，所述样品检测的步骤为：在比色管中分别加入的Au@GQDs、处理好的样品和表面活性剂，放置反应，测定荧光强度IF。

优选地，所述表面活性剂为聚乙烯醇、吐温-40、吐温-80、十二烷基硫酸钠中的一种。

优选地，所述样品检测的步骤中：Au@GQDs、处理好的样品和表面活性剂之间的体积比为：5：5：0.05-0.4。