[发明专利]IO-Link设备测试装置在审

专利信息
申请号: 202110693136.5 申请日: 2021-06-22
公开(公告)号: CN113612651A 公开(公告)日: 2021-11-05
发明(设计)人: 顾洁洁;张伟;孔令双;吴国进;周松;闫宇;刘聪 申请(专利权)人: 合肥安胜智能电子有限公司
主分类号: H04L12/26 分类号: H04L12/26;G06F11/36
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 孙立波
地址: 230000 安徽省合肥市高新*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: io link 设备 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种IO-Link设备测试装置,其特征在于,包括:设备测试工具和主机,所述主机具有多个IO-Link标准接口,所述IO-Link标准接口用以连接IO-Link设备,所述设备测试工具用于:

连接所述主机,并通过所述主机确定待测试IO-Link设备,以及通过所述主机对所述待测试IO-Link设备进行测试。

2.如权利要求1所述的IO-Link设备测试装置,其特征在于,所述设备测试工具在通过所述主机对所述待测试IO-Link设备进行测试时,具体用于:

查找与所述待测试IO-Link设备对应的IODD文件,并根据所述IODD文件对所述待测试IO-Link设备进行测试参数配置;

获取测试需求,并根据所述测试需求选择测试用例;

根据所配置的测试参数和所选择的测试用例,通过所述主机对所述待测试IO-Link设备进行测试;

其中,所述设备测试工具还用于根据所述主机反馈的测试结果,生成测试报告。

3.如权利要求2所述的IO-Link设备测试装置,其特征在于,所述主机包括USB驱动芯片、单片机和多个IO-Link物理层驱动芯片,其中,

所述USB驱动芯片用于实现所述主机与所述设备测试工具的连接;

所述多个IO-Link物理层驱动芯片与所述多个IO-Link标准接口一一对应,所述IO-Link物理层驱动芯片与对应的IO-Link标准接口连接;

所述单片机与所述USB驱动芯片、所述多个IO-Link物理层驱动芯片分别连接,用于通过所述USB驱动芯片接收所述设备测试工具发送的测试指令,并根据所述测试指令通过所述多个IO-Link物理层驱动芯片执行与IO-Link设备的通信,以便所述设备测试工具确定所述待测试IO-Link设备,以及通过所述USB驱动芯片接收所述设备测试工具发送的测试参数和测试用例,以对所述待测试IO-Link设备进行测试,并将测试结果通过所述USB驱动芯片反馈至所述设备测试工具,以便所述设备测试工具生成所述测试报告。

4.如权利要求1所述的IO-Link设备测试装置,其特征在于,所述设备测试工具连接所述主机时,具体用于:

所述设备测试工具接收自动扫描指令,并根据所述自动扫描指令查找自身的所有COM端口,并随机确定一个可连接所述主机的COM端口,并通过该COM端口与所述主机连接;

或者,

所述设备测试工具接收手动连接指令,并根据所述手动连接指令显示自身的所有端口以供选择,接收端口选择指令,并根据所述端口选择指令确定与所述主机连接的COM端口,并通过该COM端口与所述主机连接。

5.如权利要求2所述的IO-Link设备测试装置,其特征在于,所述设备测试工具查找IODD文件时,具体用于:

所述设备测试工具获取历史文件,并从所述历史文件查找所述IODD文件;

或者,

所述设备测试工具从预设的IODD资源库查找IODD文件;

或者,

所述设备测试工具接收IODD文件选择指令,并根据所述IODD文件选择指令查找所述IODD文件。

6.如权利要求2所述的IO-Link设备测试装置,其特征在于,所述设备测试工具进行测试参数配置时,具体用于:

所述设备测试工具获取预先存储的测试参数,并根据所述预先存储的测试参数进行测试参数配置;

或者,

所述设备测试工具接收输入的测试参数,并根据所述输入的测试参数进行测试参数配置。

7.如权利要求6所述的IO-Link设备测试装置,其特征在于,所述设备测试工具在根据所述输入的测试参数进行测试参数配置之前,还用于:

对所述输入的测试参数进行校验,其中,在校验通过后,所述设备测试工具根据所述输入的测试参数进行测试参数配置;

其中,所述设备测试工具还用于存储配置好的测试参数。

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