[发明专利]线程调度性能的测试方法、装置和电子设备

说明书

本发明提供一种线程调度性能的测试方法、装置和电子设备，属于计算机技术领域。线程调度性能的测试方法包括：在待检测操作系统中创建并启动N个线程，其中，N为大于1的整数；在预设时间长度内，循环调用所述N个线程，以对所述待检测操作系统的线程调度性能进行测试，其中，所述线程每被调用一次，则将所述线程对应的运行计数值加1；获取所述N个线程的运行计数值之和；根据所述N个线程的运行计数值之和与所述预设时间长度，确定所述待检测操作系统的线程调度性能的测试结果。本发明能够提升线程调度性能的测试结果的精确度。

技术领域

本发明属于计算机技术领域，尤其涉及一种线程调度性能的测试方法、装置和电子设备。

背景技术

在相关技术中，采用线程控制不同的输入输出(in/out，IO)口输出脉冲信号，同时使用示波器检测IO1脉冲停止到IO2脉冲开始的时间差，以将测试所得时间差与预设值进行对比，得出待检测操作系统的线程调度性能的测试结果。

相关技术中的测试过程中，由于示波器的精度差异，可能会对测试结果产生客观影响，同时，由于示波器只能检测IO1脉冲停止到IO2脉冲开始的时间差，期间除了线程调度以外，待检测操作系统还需要完成其他工作，该其他工作同样会造成IQ口输出脉冲信号，从而降低了测试精度。

由此可知，相关技术中的线程调度性能的测试方法的精确度低。

发明内容

本发明提供一种线程调度性能的测试方法、装置和电子设备，能够解决相关技术中的线程调度性能的测试方法存在的的精确度低的问题。

为解决上述技术问题，本发明是这样实现的：

第一方面，本发明提供了一种线程调度性能的测试方法，该方法包括：

在待检测操作系统中创建并启动N个线程，其中，N为大于1的整数；

在预设时间长度内，循环调用所述N个线程，以对所述待检测操作系统的线程调度性能进行测试，其中，所述线程每被调用一次，则将所述线程对应的运行计数值加1；

获取所述N个线程的运行计数值之和；

根据所述N个线程的运行计数值之和与所述预设时间长度，确定所述待检测操作系统的线程调度性能的测试结果。

第二方面，本发明提供了一种线程调度性能的测试装置，包括：

创建模块，用于在待检测操作系统中创建并启动N个线程，其中，N为大于1的整数；

调用模块，用于在预设时间长度内，循环调用所述N个线程，以对所述待检测操作系统的线程调度性能进行测试，其中，所述线程每被调用一次，则将所述线程对应的运行计数值加1；

获取模块，用于获取所述N个线程的运行计数值之和；

确定模块，用于根据所述N个线程的运行计数值之和与所述预设时间长度，确定所述待检测操作系统的线程调度性能的测试结果。

第三方面，本发明提供了一种电子设备，该电子设备包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述处理器执行时实现如第一方面所述的方法的步骤。

第四方面，本发明提供了一种计算机可读存储介质，所述可读存储介质上存储程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现如第一方面所述的方法的步骤。