[发明专利]电气设备缺陷确定方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请实施例涉及设备检测技术领域，公开了一种电气设备缺陷确定方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待识别电气设备的第一红外图像；根据第一红外图像，获取待识别电气设备的温度信息；根据温度信息，确定第一红外图像中的温度异常区域；通过训练好的缺陷确定模型提取温度异常区域的特征，根据特征生成温度异常区域对应的多个第一掩膜，并确定温度异常区域中缺陷部件的第一掩膜系数；通过缺陷确定模型，根据多个第一掩膜以及第一掩膜系数生成温度异常区域的第二掩膜；通过缺陷确定模型，根据第二掩膜确定待识别电气设备的缺陷部件在第一红外图像中的图像位置。能够准确对缺陷部件进行定位，能够提升电气设备缺陷部位的识别准确率。

技术领域

本申请涉及设备检测技术领域，尤其涉及一种电气设备缺陷确定方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

电力系统中的电气设备长期在高电压的环境中运行，而电气设备在长期的电压、发热、机械应力和环境因素作用下不可避免地出现温度异常、结构损伤等缺陷，对电气设备缺陷的及时发现和排除有利于提高电气设备以及电力系统的安全性。

目前电力系统中通常应用红外图像来判断电气设备是否温度异常，但这只能反映电气设备温度异常的区域，对于电气设备中导致温度异常的缺陷部件的识别准确率较低。

发明内容

本申请实施例公开了一种电气设备缺陷确定方法、装置、电子设备及存储介质，能够准确识别到电气设备的缺陷部件，提高电气设备中缺陷部件的识别准确度。

本申请实施例第一方面公开一种电气设备缺陷确定方法，包括：

获取待识别电气设备的第一红外图像；

根据所述第一红外图像，获取所述待识别电气设备的温度信息；

根据所述温度信息，确定所述第一红外图像中的温度异常区域；

通过训练好的缺陷确定模型提取所述温度异常区域的特征，根据所述特征生成所述温度异常区域对应的多个第一掩膜，并确定所述温度异常区域中缺陷部件的第一掩膜系数；

通过所述缺陷确定模型，根据所述多个第一掩膜以及所述第一掩膜系数生成所述温度异常区域的第二掩膜；

通过所述缺陷确定模型，根据所述第二掩膜确定所述待识别电气设备的缺陷部件在所述第一红外图像中的图像位置。

作为一种可选的实施方式，在本申请实施例第一方面中，所述缺陷确定模型是通过训练图像集进行训练得到的，所述训练图像集包括电气设备中各组成部件分别作为缺陷部件时对应的红外图像，所述红外图像标注有电气设备中各组成部件分别作为缺陷部件时的信息。

作为一种可选的实施方式，在本申请实施例第一方面中，在所述通过所述缺陷确定模型，根据所述第二掩膜确定所述待识别电气设备的缺陷部件在所述第一红外图像中的图像位置之后，所述方法还包括：

根据所述图像位置从所述第一红外图像中截取所述缺陷部件对应的第一红外子图像；

根据所述第一红外子图像，获取所述缺陷部件的温度信息；

将所述第一红外子图像以及所述缺陷部件的温度信息，与数据库中所述待识别电气设备的各组成部件的第二红外图像以及各组成部件的温度信息分别进行比对，其中，所述第二红外图像为所述待识别电气设备的各组成部件处于正常状态下的红外图像；

根据比对的结果，确定缺陷部件的部件信息。

作为一种可选的实施方式，在本申请实施例第一方面中，

所述缺陷确定模型包括具有多个卷积模块的深度残差网络，所述通过训练好的缺陷确定模型提取所述温度异常区域的特征，包括：

通过所述深度残差网络的多个卷积模块对所述温度异常区域进行处理，得到多个输出尺寸均不相同的第一特征图；