[发明专利]磁轴承转子位置检测方法、装置、介质、控制器及系统在审
申请号: | 202110688333.8 | 申请日: | 2021-06-21 |
公开(公告)号: | CN113409274A | 公开(公告)日: | 2021-09-17 |
发明(设计)人: | 赵聪;霍玥潼;李雪 | 申请(专利权)人: | 珠海格力电器股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/20;G06T7/70 |
代理公司: | 北京煦润律师事务所 11522 | 代理人: | 高莹;梁永芳 |
地址: | 519070*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁轴 承转 位置 检测 方法 装置 介质 控制器 系统 | ||
1.一种磁悬浮轴承转子位置检测方法,其特征在于,在所述磁悬浮轴承中布置有微型摄像装置,所述方法,包括:
通过所述微型摄像装置对所述磁悬浮轴承的转子进行图像采集,得到目标区域的转子图像;
将采集得到的所述目标区域的转子图像与所述目标区域的转子标准悬浮位置图像进行比对,以确定所述转子的位置信息。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,将采集得到的所述目标区域的转子图像与所述目标区域的转子标准悬浮位置图像进行比对,以确定所述转子的位置信息,包括:
识别所述目标区域的转子图像中的图像像素点,并对所述图像像素点进行数值化转换;
将转换后得到的所述目标区域的转子图像与所述转子标准悬浮位置图像进行比对得到差异参数图像;
根据比对得到的所述差异参数图像确定所述转子的位置信息。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,
将转换后得到的所述转子图像与所述转子标准悬浮位置图像进行比对得到差异参数图像,包括:
将转换后得到的所述转子图像与所述目标区域的转子标准悬浮位置图像中对应位置的数值进行与运算得到差异像素点,从而得到差异参数图像;
和/或,
根据比对得到的所述差异参数图像确定所述转子的位置信息,包括:
对所述差异参数图像进行测量,以得到所述转子的位置信息;
和/或,
基于所述差异参数图像,通过坐标法确定所述转子的位置信息。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述位置信息,包括转子位移量、转子弯曲量和转子伸长量中的至少之一,
对所述差异参数图像进行测量,以得到所述转子的位置信息,包括:
通过所述万分表探头在所述差异参数图像上测量所述转子在x轴方向和y轴方向的最大偏移量,以根据所述转子在x轴方向和y轴方向的最大偏移量计算转子位移量;
和/或,
通过所述万分表探头在所述差异参数图像上测量所述转子发生弯曲的最大位移,以作为转子弯曲量;
和/或,
通过所述万分表探头在所述差异参数图像上测量所述转子两端边侧与转子标准悬浮位置两端边侧的矩形宽度,以作为转子伸长量。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,基于所述差异参数图像,通过坐标法确定所述转子的位置信息,包括:
基于所述差异参数图像,通过坐标法进行像素点定位,得到所述差异参数图像中的差异像素点坐标;
根据得到的所述差异参数图像中的差异像素点坐标,确定所述转子的位置信息。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述位置信息,包括转子位移量、转子弯曲量和转子伸长量中的至少之一;
根据得到的所述差异参数图像中的差异像素点坐标,确定所述转子的位置信息,包括:
根据得到的所述差异参数图像中的差异像素点坐标,确定所述转子在x轴方向和y轴方向的最大偏移量,以根据所述转子在x轴方向和y轴方向的最大偏移量计算转子位移量;
和/或,
根据得到的所述差异参数图像中的差异像素点坐标,确定所述转子发生弯曲的最大位移,以作为转子弯曲量;
和/或,
根据得到的所述差异参数图像中的差异像素点坐标,所述转子两端边侧与转子标准悬浮位置两端边侧的矩形宽度,以作为转子伸长量。
7.根据权利要求5或6所述的方法,其特征在于,通过两个微型摄像装置采集所述目标区域的转子图像,在所述转子的径向方向的横截面上,分别经过所述两个微型摄像装置的中心的径向方向的直线与所述转子的边缘分别形成两个交点,且经过所述两个交点的转子切线相互垂直;
通过坐标法进行像素点定位,得到所述差异参数图像中的差异像素点坐标,包括:
分别以经过所述两个微型摄像装置的中心的转子径向方向的直线与所述转子的边缘的交点为切点做转子切线,以两切线交点为坐标原点,两切线分别作为x轴和y轴建立坐标系;
基于坐标原点和所述两个微型摄像装置的坐标,通过三点协作坐标法确定差异像素点的坐标。
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