[发明专利]一种面向卷积神经网络隐写分析的优化方法有效
申请号: | 202110687400.4 | 申请日: | 2021-06-21 |
公开(公告)号: | CN113486932B | 公开(公告)日: | 2023-09-19 |
发明(设计)人: | 张茹;邹盛;刘建毅;田思远 | 申请(专利权)人: | 北京邮电大学;北京慧科信安科技有限公司 |
主分类号: | G06V10/77 | 分类号: | G06V10/77;G06V10/74;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/08 |
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地址: | 100876 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 面向 卷积 神经网络 分析 优化 方法 | ||
1.一种面向卷积神经网络隐写分析的优化方法,其特征在于,包括:
A、采用非线性的t-sne降维算法可视化同类隐写样本的类内聚集度,即高维点集:X{x1,x2,……,xn}映射到低维点集Y{y1,y2,……,yn},包括以下步骤:
A1、首先使用t分布初始化低维样本空间,再进行逐步优化;在降维时设置学习率η,迭代次数t,困难系数p和初始化动量α(t),p一般为0到50,避免陷入局部最优解;
计算高维空间中同类隐写样本中所有点的相似性pi|j,其中σ为方差:
A2、计算低维空间中同类点中所有点的相似性qi|j:
A3、计算降维前与降维后的误差,用于后面的梯度下降优化,其中Pi,Qj为降维先后数据点的分布:
因此梯度为:
A4、更新低维点集:
B、采用平均变异系数衡量卷积神经网络隐写分析算法特征表达能力,包括以下步骤:
B1、设Xnm为同类隐写样本特征向量的集合,即,
其中,n为同类隐写样本数量,m为特征向量的维度数,xij为第i个样本的第j维特征值;
B2、按列计算同类隐写样本特征向量Xnm的第j维特征均值:
计算同类隐写样本特征向量Xnm的第j维特征标准差:
B3、根据变异系数的公式,可以得到同类隐写样本特征向量Xnm的第j维特征变异系数:
B4、对同类隐写样本的各维特征变异系数CVj计算均值得到同类隐写样本特征的变异系数:
C、计算各种算法的不同特征的变异系数值,根据变异系数调整特征集,优化隐写分析性能,包括以下步骤:
C1、利用公式
计算训练集中cover样本集和stego样本集
C2、针对stego训练样本集,利用公式
计算同类隐写样本集特征向量Xnm的第j维特征变异系数CVj,得到m维变异系数向量CV[m];
C3、令I[m]保存CV[m]的大小降序排列变异系数向量的列号,即,I[m]=sort_down(CV[m]);
C4、根据变异系数值大小去除前N个特征,即将Xnm中对应列特征值置0,形成可生成X'nm的新网络,降低特征集的平均变异系数;
C5、对新生成的卷积神经网络进行训练,优化隐写分析性能。
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