[发明专利]一种利用AlphaGUARD P2000F测氡仪校准DDL-1型气氡仪的方法

权利要求书

1.一种利用AlphaGUARD P2000F测氡仪校准DDL-1型气氡仪的方法，其特征在于，所述方法包括：

将AlphaGUARD P2000F测氡仪出气口与水样容器的进气口连接，所述水样容器的出气口与DDL-1型测氡仪电离室的进气口连接，所述DDL-1型测氡仪电离室的出气口通过抽气泵与所述AlphaGUARD P2000F测氡仪的进气口连接，使得所述AlphaGUARD P2000F测氡仪、水样容器、DDL-1型测氡仪电离室以及抽气泵形成闭合系统；

向所述水样容器中加入含氡气体的水溶液；

打开抽气泵、所述AlphaGUARD P2000F测氡仪、DDL-1型测氡仪电离室，使得水样容器中的含氡气体水溶液中的氡气溢出，并分别经所述DDL-1型测氡仪电离室、AlphaGUARDP2000F测氡仪的检测；

其中，所述DDL-1型测氡仪电离室的校正值为K(Bq/mV)，

其中，C_校为Alpha GUARD P2000F测氡仪扣除系统本底后并经温度和气压校正后的氡体积活度(Bq/L)；V_DDL-1为DDL-1型测氡仪电离室体积(L)；N为DDL-1型测氡仪的校准读数(mV)；N₀为DDL-1型测氡仪的本底读数值(mV)。

2.如权利要求1所述的利用AlphaGUARD P2000F测氡仪校准DDL-1型气氡仪的方法，其特征在于，

所述方法还包括：在所述抽气泵和所述DDL-1型测氡仪电离室之间连接子体过滤器。

3.如权利要求1所述的利用AlphaGUARD P2000F测氡仪校准DDL-1型气氡仪的方法，其特征在于，

所述AlphaGUARD P2000F测氡仪的测定模式为主动模式，测量周期为10min。

4.如权利要求1所述的利用AlphaGUARD P2000F测氡仪校准DDL-1型气氡仪的方法，其特征在于，

所述水样容器为AquaKIT鼓气瓶。

5.如权利要求1所述的利用AlphaGUARD P2000F测氡仪校准DDL-1型气氡仪的方法，其特征在于，

所述校正值K中，

第一公式：

第二公式：

式中:C_校为气温、气压校正后的氡值；C_测为AlphaGUARD P2000F在所述闭合系统中的检测值；P为测量时的环境气压值；T为测量时环境温度值。

6.如权利要求5所述的利用AlphaGUARD P2000F测氡仪校准DDL-1型气氡仪的方法，其特征在于，

所述第一公式和第二公式中，C_测＝C₁-C₀，其中，C₀为AlphaGUARD P2000F测氡仪测定的闭合系统中氡值本底值，C₁为AlphaGUARD P2000F测氡仪测定的闭合系统中氡值测试值。

7.如权利要求5所述的利用AlphaGUARD P2000F测氡仪校准DDL-1型气氡仪的方法，其特征在于，

所述第一公式适合低量程校正，其校正范围为2～30 000Bq/m³；

所述第二公式适合高量程校正，其校正范围为30 000～2 000 000Bq/m³。