[发明专利]一种PCIe设备测试方法、装置、设备及可读存储介质

说明书

本发明公开了一种PCIe设备测试方法，该方法包括以下步骤：获取各插槽分别对应的硬件在位信息和各PCIe设备分别对应的基本在位信息；结合各硬件在位信息和各基本在位信息确定PCIe设备实际部署信息；调取预置的PCIe设备配置表；基于PCIe设备实际部署信息，按照PCIe设备配置表对各PCIe设备进行测试。应用本发明所提供的PCIe设备测试方法，提升了PCIe设备检查的成功率，降低了信息误报率，提升了测试效率。本发明还公开了一种PCIe设备测试装置、设备及存储介质，具有相应技术效果。

技术领域

本发明涉及计算机应用技术领域，特别是涉及一种PCIe设备测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质。

背景技术

在产品研发过程中，尤其在硬件研发中，为避免系统中PCIe设备缺失或资源分配不足导致的各种问题，需要对系统中的PCIe设备进行测试，测试资源预留是否正确。

现有对PCIe设备的测试方法主要分为两种，一种是使用人工的方式来进行测试；另一种是对系统中固有PCIe设备进行资源检查。但是，以上两种测试方法均存在各自的缺点。首先，人工测试方法由于系统中PCIe设备种类较多，PCIe资源分配各不相同，导致测试耗时长。其次，对系统中固有PCIe设备进行资源检查的测试方式，由于某些插槽的可拔插性，会根据实际需求出现更换PCIe设备的情况，导致PCIe设备检查失败，产生信息误报。

综上所述，如何有效地解决测试耗时长，PCIe设备检查失败，易产生信息误报等问题，是目前本领域技术人员急需解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种PCIe设备测试方法，该方法提升了PCIe设备检查的成功率，降低了信息误报率，提升了测试效率；本发明的另一目的是提供一种PCIe设备测试装置、设备及计算机可读存储介质。

为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：

一种PCIe设备测试方法，包括：

获取各插槽分别对应的硬件在位信息和各PCIe设备分别对应的基本在位信息；

结合各所述硬件在位信息和各所述基本在位信息确定PCIe设备实际部署信息；

调取预置的PCIe设备配置表；

基于所述PCIe设备实际部署信息，按照所述PCIe设备配置表对各所述PCIe设备进行测试。

在本发明的一种具体实施方式中，结合各所述硬件在位信息和各所述基本在位信息确定PCIe设备实际部署信息，包括：

根据各所述硬件在位信息确定处于在位状态的各目标插槽；

根据各所述基本在位信息确定各所述PCIe设备分别占用的插槽组中的头部插槽和插槽个数；

获取各所述头部插槽分别对应的插槽号；

根据各所述插槽号，确定各所述头部插槽与各目标插槽之间的对应关系；

根据所述对应关系和所述插槽个数确定所述PCIe设备实际部署信息。

在本发明的一种具体实施方式中，按照所述PCIe设备配置表对各所述PCIe设备进行测试，包括：

获取待测试项目；

根据所述待测试项目采集各所述PCIe设备分别对应的目标实际参数；

从所述PCIe设备配置表中查找所述待测试项目对应的目标标准参数；

判断各所述目标实际参数是否均与所述目标标准参数一致；

若是，则确定测试结果为各所述PCIe设备均满足测试要求；

若否，则确定测试结果为存在PCIe设备未满足测试要求。