[发明专利]一种电路板的测试方法及装置

说明书

本申请公开一种电路板的测试方法及装置，包括：在第一测试阶段，测量得到待测电路板的第一参考信号数据和第一目标信号数据；在第二测试阶段，测量得到所述待测电路板的第二参考信号数据和第二目标信号数据；根据所述第一参考信号数据、第二参考信号数据、第一目标信号数据和第二目标信号数据，确定所述待测电路板对应的目标信号图；所述目标信号图中包括，所述第一目标信号数据对应的第一目标波形，和所述第二目标信号数据对应的第二目标波形。

技术领域

本申请涉及电子技术领域，尤其涉及一种电路板的测试方法及装置。

背景技术

电路板是几乎所有电子产品中均会涉及到的一种元器件。而在电路板的生产、装配及检验过程中，对于电路板的信号测试是一项必不可少的环节。

传统的电路板信号测试，是人工操作测试探棒，对电路板进行点测。但显而易见的是，人工测试的方式效率较为低下。在现有技术中，也可实现利用机械臂对电路板进行信号测试，以提高测试效率。但是，由于电子元器件日趋精密，很多电路板的体积越来越小。以至于没有足够的空间供多个机械臂同时进行测试操作。

发明内容

本申请提供一种电路板的测试方法及装置，以至少解决现有技术中存在的以上技术问题。

第一方面，本申请提供一种电路板的测试方法，包括：

在第一测试阶段，测量得到待测电路板的第一参考信号数据和第一目标信号数据；

在第二测试阶段，测量得到所述待测电路板的第二参考信号数据和第二目标信号数据；

根据所述第一参考信号数据、第二参考信号数据、第一目标信号数据和第二目标信号数据，确定所述待测电路板对应的目标信号图；

所述目标信号图中包括，所述第一目标信号数据对应的第一目标波形，和所述第二目标信号数据对应的第二目标波形。

优选的，还包括：

根据所述第一参考信号数据和所述第一目标信号数据，确定第一信号图；所述第一信号图包括，所述第一参考信号数据对应的第一参考波形，和所述第一目标信号数据对应的第一目标波形；

根据所述第二参考信号数据和所述第二目标信号数据，确定第二信号图；所述第二信号图包括，所述第二参考信号数据对应的第二参考波形，和所述第二目标信号数据对应的第二目标波形。

优选的，所述根据所述第一参考信号数据、第二参考信号数据、第一目标信号数据和第二目标信号数据，确定所述待测电路板对应的目标信号图包括：

当所述第一参考信号数据和所述第二参考信号数据满足预设条件，将所述第一信号图与所述第二信号图叠加，以确定所述目标信号图；

所述目标信号图包括，所述第一目标信号数据对应的第一目标波形，和所述第二目标信号数据对应的第二目标波形。

优选的，所述将所述第一信号图与所述第二信号图叠加，以确定所述目标信号图包括：

基于图像处理技术，将所述第一信号图与所述第二信号图叠加，以确定所述目标信号图。

优选的，所述将所述第一信号图与所述第二信号图叠加，以确定所述目标信号图包括：

根据所述第二信号图，确定所述第二参考信号数据和所述第二目标信号数据的转换关系；

根据所述第二参考信号数据和所述转换关系，在所述第一信号图中添加所述第二目标波形；

将添加所述第二目标波形之后的所述第一信号图，确定为所述目标信号图。

优选的，还包括：

根据所述第一参考信号数据和所述第二参考信号数据，确定参考波形；