[发明专利]一种精密控制的固化处理介电材料的半导体装置及方法在审

专利信息
申请号: 202110675332.X 申请日: 2021-06-21
公开(公告)号: CN113436994A 公开(公告)日: 2021-09-24
发明(设计)人: 姚大平 申请(专利权)人: 江苏中科智芯集成科技有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;H01L21/683
代理公司: 上海智晟知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31313 代理人: 张东梅
地址: 221000 江苏省徐州市经济技*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 精密 控制 固化 处理 材料 半导体 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种精密控制固化处理介电材料的半导体装置,其特征在于,包括:

晶圆放置架,所述晶圆放置架被配置为承载晶圆台盘,并且所述晶圆放置架上布置有真空导管,所述真空导管连接所述晶圆台盘的背面与真空系统;

晶圆台盘,所述晶圆台盘的上表面被配置为承载晶圆,并且所述晶圆台盘上构造有通孔,所述通孔连通所述晶圆台盘的上表面和下表面,并且所述通孔与所述真空导管相连接;以及

低压固化晶圆装置,所述低压固化晶圆装置被配置为加热固化介电材料,所述介电材料涂覆于所述晶圆台盘上承载的晶圆表面。

2.根据权利要求1所述的精密控制的介电材料固化装置,其特征在于,所述晶圆台盘包括:

底盘,所述底盘的上表面上构造有多个沟槽,所述多个沟槽之间相互连通,所述通孔设置于底盘中心;以及

边缘圈,所述边缘圈布置于所述底盘的边缘处,被配置为固定晶圆。

3.根据权利要求2所述的精密控制的介电材料固化装置,其特征在于,所述底盘的边缘处布置盲孔,所述盲孔被配置为紧扣所述边缘圈。

4.根据权利要求2所述的精密控制固化处理介电材料半导体装置,其特征在于;所述沟槽为圆形沟槽;所述沟槽的深度和宽度均为2.5-3.5mm;以及所述通孔的直径为3-6mm。

5.根据权利要求2所述的精密控制固化处理介电材料的半导体装置,其特征在于,所述底盘的材料包括铝合金、铜合金;以及所述边缘圈的材料包括Vespel有机材料。

6.根据权利要求1所述的精密控制固化处理介电材料的半导体装置,其特征在于:所述真空导管上设置有真空表以及自控阀门。

7.根据权利要求1所述的精密控制固化处理介电材料的半导体装置,其特征在于,所述低压固化晶圆装置包括:

进气管道,所述进气管道被配置为向所述加热腔室输送工艺气体;

加热腔室,所述加热腔室包括加热层,其中通过加热所述加热层以加热工艺气体;以及

出气管道,所述出气管道连接所述加热腔室与真空系统,并且所述出气管道上布置有压力控制阀,所述压力控制阀被配置为控制所述加热腔室中的压力。

8.根据权利要求7所述的精密控制固化处理介电材料的半导体装置,其特征在于,所述晶圆放置架和所述晶圆台盘放置在所述加热腔室内。

9.根据权利要求7所述的精密控制固化处理介电材料的半导体装置,其特征在于,所述低压固化晶圆装置还包括:

耐高温真空密封圈,所述耐高温真空密封圈布置于所述加热腔室的开口处;以及

腔室外门,所述腔室外门被配置为在关闭时与所述耐高温真空密封圈紧密贴合。

10.一种利用权利要求1-9所述的精密控制的介电材料固化装置固化介电材料的方法,其特征在于,包括下列步骤:

将晶圆放置在台盘里,台盘放置在所述晶圆放置架上,并且将所述真空管道与所述晶圆台盘的通孔相连接;

通过加热腔室的开口将所述晶圆放置架放入所述加热腔室中,并且通过所述真空管道连接所述通孔和真空系统;

通过控制所述自控阀门,使晶圆背面减压以和所述台盘紧密接触;

向加热腔室中通入工艺气体,并且通过调节所述工艺气体的流量以及调解所述加热腔室内的压力,以对腔体实施充气-排气循环作业;

通过控制所述压力控制阀,使加热腔室内的压力到达可设定的工艺压力值,并且在该压力下通过加热所述加热层以加热工艺气体,从而对涂敷介电材料的晶圆进行固化处理;

在到达可设定的时间后,停止加热所述加热层以降低所述加热腔室内的温度,并且仍然向所述加热腔室内通入工艺气体,逐步升压至一个大气压;

通过控制所述自控阀门,使晶圆背面通气升压;以及

将晶圆放置架从加热腔室中移除。

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