[发明专利]一种采用形态学去除安检图像杂波的方法在审
| 申请号： | 202110672994.1 | 申请日： | 2021-06-17 |
| 公开（公告）号： | CN113313652A | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 尚士泽;李光锐;李元吉;辛乐 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十四研究所 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T5/30 |
| 代理公司： | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人： | 康翔;高娇阳 |
| 地址： | 210039 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 采用 形态学 去除 安检 图像 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种采用形态学去除安检图像杂波的方法，其特征在于，包括：
安检图像二值化：设置二值化阈值为Th，安检图像中大于该阈值的像素赋值为1，否则为0，得到安检图像的二值图像；
图像膨胀：设置膨胀半径为r，扩展二值图像中像素值为1的部分，得到完整的回波区域；
平滑滤波：设置二维高斯滤波器的半径为rg，标准差为σg，采用高斯滤波二值图像，将像素值从0变为1或者从1变为0的过渡区域的像素值修改为0到1之间的小数；
去除杂波：经过滤波的二值图像与安检图像的对应元素相乘。
2.根据权利要求1所述的采用形态学去除安检图像杂波的方法，其特征在于，所述设置膨胀半径为r，包括：根据回波信号的实际强度及其二值化的结果设置膨胀半径r。
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