[发明专利]一种电光相位调制器射频参数的测量方法与装置

权利要求书

1.一种电光相位调制器射频参数的测量装置，其特征在于：包括激光器LD、保偏光纤分路器a、待测电光相位调制器b、相位调节器c、保偏光纤耦合器d、分光器、光电探测器PD、MZ干涉环路相位稳定控制电路以及矢量网络分析仪，

其中，激光器LD，用于输出光信号；

保偏光纤分路器a，分光比50∶50，用于将激光器LD输出的光信号分为功率比为50：50的两路；

待测电光相位调制器b，为待测对象，对其进行S21、S11曲线和增益的射频参数测试；

相位调节器c，用于补偿相位抖动以稳定保偏光纤分路器a分光之后的两路光信号的相位差；保偏光纤耦合器d，分光比50∶50，用于将分开的两路光信号进行耦合；

分光器，分光比10∶90，用于将经保偏光纤耦合器d输出后的光分为功率为1∶9的两部分光信号；

光电探测器PD，用于将光信号转换为电信号以便进行探测；

MZ干涉环路相位稳定控制电路，用于对整个电路相位控制并保持其稳定，依次由第二光电探测器PD、前置放大电路、低通滤波器、模数转换、数字处理单元、数模转换和驱动电路构成；矢量网络分析仪用于测量待测电光相位调制器的射频参数；

激光器LD的光源输出端口与保偏光纤分路器a相连，保偏光纤分路器a的两路输出分别与待测电光相位调制器b、相位调节器c相连，矢量网络分析仪输出端与待测电光相位调制器b射频输入端相连，待测电光调制器b与相位调节器c的输出端分别与保偏光纤耦合器d的两输入端相连，保偏光纤耦合器d的输出端口与分光器相连，分光器的小信号光进入MZ干涉环路相位稳定控制电路,MZ干涉环路相位稳定控制电路的输出与相位调节器c的输入端相连，分光器的另外一路光信号进入第一光电探测器PD后输出，输出信号进入矢量网络分析仪。

2.根据权利要求1所述的一种电光相位调制器射频参数的测量装置，其特征在于：相位调节器c还可以由一个已知的相位调制器代替。

3.一种电光相位调制器射频参数的测量方法，基于权利要求1所述的一种电光相位调制器射频参数的测量装置，其特征在于：包括以下步骤：

激光器LD产生波长为λ的光波进入保偏光纤分路器a，分路器a的两路输出分别进入待测电光相位调制器b、相位调节器c；

待测电光相位调制器b和相位调节器c的输出信号经过保偏光纤耦合器d后，经分光器分光，90％的光经过第一光电探测器PD进入矢量网络分析仪；

将矢量网络分析仪输出的射频信号加载到待测电光相位调制器b上；

分光器分光之后，10％的光信号进入MZ干涉环路相位稳定控制电路，依次经过第二光电探测器PD、前置放大、低通滤波、模数转换、数字处理单元、数模转换后，进入驱动电路，驱动电路为相位调节器c提供驱动电压；由环境影响引起的待测电光相位调制器b的相移为θ₀，相位调节器c调节的相位为θ_x，则二者引起的总相移为θ＝θ_x-θ₀，MZ干涉环路相位稳定控制电路的输出电压与总相移θ之间存在函数关系，通过控制MZ干涉环路相位稳定控制电路的电压输出，对相位调节器进行相位θ_x的调节，实现对相位的补偿及控制，进而使θ＝θ_x-θ₀维持在一固定值，此时通过矢量网络分析仪测量得到待测电光相位调制器b稳定的射频参数。