[发明专利]一种基于空间相移的散斑干涉烧蚀测量系统及方法有效
申请号: | 202110654024.9 | 申请日: | 2021-06-11 |
公开(公告)号: | CN113358324B | 公开(公告)日: | 2022-09-02 |
发明(设计)人: | 隆永胜;汪盛佳;杨建军;王磊;韩新星 | 申请(专利权)人: | 中国空气动力研究与发展中心超高速空气动力研究所;哈尔滨工程大学 |
主分类号: | G01M9/06 | 分类号: | G01M9/06;G01M9/08 |
代理公司: | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人: | 张莉瑜 |
地址: | 621051 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 空间 相移 干涉 测量 系统 方法 | ||
本发明涉及一种基于空间相移的散斑干涉烧蚀测量系统及方法,该系统包括:激光器、准直扩束单元、分束单元、载物面、参考面、第一成像透镜、参考光透镜、测量臂孔径、参考臂孔径、合束单元、第二成像透镜和面阵相机单元;激光器发出的相干光经准直扩束后,分光到测量臂和参考臂中,在两臂中分别安放一个独立的可调孔径,引入可调节的空间相移,两臂合束并汇聚在面阵相机单元处形成干涉,可通过从空间相移上定量求解烧蚀模型的变化量;本发明的技术方案具有适应风洞极端环境的工作能力,降低了散斑干涉测量系统对测量环境的要求,提高了测量的精度。
技术领域
本发明涉及光电检测技术领域,尤其涉及一种基于空间相移的散斑干涉烧蚀测量系统及方法。
背景技术
随着高超声速飞行器的迅猛发展,飞行马赫数更高,飞行器外形结构日益复杂,对材料及结构在极端条件下的变形测量有迫切需求。散斑干涉技术作为一种光学无损测量手段,被大量应用于工业生产中。然而风洞试验中的烧蚀模型测量将会面对高温、高马赫数和自发光等方面的极端试验条件,要求散斑干涉中的相移装置具有极高的时间分辨率,或能实现实时测量。目前,常规的散斑干涉测量系统相移调制性能有限,不能达到如此苛刻条件下的时间分辨测量要求。
发明内容
本发明的目的是针对上述至少一部分不足之处,提供一种基于空间相移的散斑干涉测量系统及方法,以提高对极端条件的测量能力,实现风洞试验中的烧蚀模型测量。
为了实现上述目的,本发明提供了一种基于空间相移的散斑干涉烧蚀测量系统,包括:
激光器、准直扩束单元、分束单元、载物面、参考面、第一成像透镜、参考光透镜、测量臂孔径、参考臂孔径、合束单元、第二成像透镜和面阵相机单元;其中,
所述激光器用于提供激光;
所述准直扩束单元用于将所述激光器出射的激光进行准直扩束后,入射所述分束单元;
所述分束单元用于将入射的激光分束,分束后,一路为测量臂,入射用于设置待测物的载物面后反射,依次穿过所述第一成像透镜、所述测量臂孔径,入射所述合束单元,另一路为参考臂,入射参考面后反射,依次穿过所述参考光透镜、所述参考臂孔径,入射所述合束单元;
所述合束单元用于将入射的两路激光合束,合束后激光穿过所述第二成像透镜,汇聚成像在所述面阵相机单元处,形成散斑干涉图;
且所述测量臂孔径和所述参考臂孔径为孔径大小可调的独立孔径,孔径中心相对于穿过的激光光束中心偏移量不同,用于引入空间相移。
可选地,所述第一成像透镜与所述参考光透镜焦距相同,且到所述第二成像透镜的光程相同,所述测量臂孔径位于所述第一成像透镜的后焦面处,所述参考臂孔径位于所述参考光透镜的后焦面处。
可选地,所述第一成像透镜、所述参考光透镜分别与所述第二成像透镜构成4f光学系统。
可选地,所述分束单元的分束光强比为1:1。
可选地,所述参考面为漫射面,材质与待测物相同。
可选地,测量臂中,激光垂直入射待测物表面。
可选地,所述分束单元为分束立方体,所述合束单元为合束立方体;
所述分束立方体用于将入射的激光分束,分束后,一路为测量臂,经所述分束立方体的透反面反射后出射,垂直入射待测物后反射,依次穿过所述分束立方体、所述第一成像透镜、所述测量臂孔径,再经反射镜转向,入射所述合束立方体,并透射穿过所述合束立方体;
另一路为参考臂,经所述分束立方体的透反面透射后出射,入射参考面后反射,依次穿过所述参考光透镜、所述参考臂孔径,入射所述合束立方体,并在所述合束立方体的透反面上反射,与透射的一路合束。
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