[发明专利]一种SiC基MIS器件及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202110645748.7 申请日: 2021-06-09
公开(公告)号: CN113555441B 公开(公告)日: 2023-06-27
发明(设计)人: 李京波;赵艳;汪争;郑涛;朱广虎;唐猛;李伟 申请(专利权)人: 浙江芯科半导体有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L29/24;H01L29/51;H01L21/34
代理公司: 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 代理人: 李园园
地址: 311400 浙江省杭州市富*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 sic mis 器件 及其 制备 方法
【说明书】:

本发明涉及一种SiC基MIS器件及其制备方法,方法包括:在蓝宝石衬底上制备氧化镓纳米片;在n型重掺SiC层上生长n型轻掺SiC栅介质层;在所述n型重掺SiC层远离所述n型轻掺SiC栅介质层的一侧制备底栅电极;将所述蓝宝石衬底上的所述氧化镓纳米片转移到所述n型轻掺SiC栅介质层上;在所述氧化镓纳米片的两端分别制备源电极和漏电极;对所述源电极、所述漏电极、所述氧化镓纳米片、所述n型轻掺SiC栅介质层、所述n型重掺SiC层和所述底栅电极进行退火处理,以得到SiC基MIS器件。本发明制备的SiC基MIS器件具有良好的栅控能力,且散热性能提高,耐压能力增强,且本发明的制备方法成本低,制备的器件性能优异,对环境友好,可重复性生产。

技术领域

本发明属于半导体器件技术领域,涉及一种SiC基MIS器件及其制备方法。

背景技术

功率半导体器件应用领域十分广泛,在5G通信、智能电网、高速轨道交通、新能源汽车、消费类电子等领域具有广阔的前景。随着传统Si基功率器件逐渐接近其理论极限值,在功率密度的提供上已被挖掘殆尽,以GaN和SiC为代表的第三代宽禁带半导体因其具有更宽带隙、更高击穿场强、更低能量损耗等优势给功率半导体产业重新带来了生机。但SiC和GaN目前也面临着一些问题,如掺杂带隙能量升高时衬底导电性差,单晶制备成本高等。

近年来,氧化镓成为下一个高功率器件的候选材料,相较于SiC和GaN,它具有更宽的禁带宽度(4.9eV)、更高的击穿场强(8MV/cm)以及更好的Baliga品质因数),因此基于氧化镓材料的功率器件具有耐高压、低损耗、耐辐射等优点。但氧化镓热导系数较小、散热能力差,这阻碍了功率器件性能的进一步提高。针对这种现状,目前常采用机械剥离单晶获得氧化镓薄层来提高散热能力(参见文献jie su et al.Mechanical and thermodynamicproperties of two-dimensional monoclinic Ga2O3[J].MaterialsDesign,184.)和中国专利CN110112206A。

但是,机械剥离单晶获得氧化镓薄层的做法依旧存在可重复性差、受单晶中的点缺陷影响等不足。

发明内容

为了解决现有技术中存在的上述问题,本发明提供了一种SiC基MIS器件及其制备方法。本发明要解决的技术问题通过以下技术方案实现:

本发明实施例提供了一种SiC基MIS器件的制备方法,包括以下步骤:

在蓝宝石衬底上制备氧化镓纳米片;

在n型重掺SiC层上生长n型轻掺SiC栅介质层;

在所述n型重掺SiC层远离所述n型轻掺SiC栅介质层的一侧制备底栅电极;

将所述蓝宝石衬底上的所述氧化镓纳米片转移到所述n型轻掺SiC栅介质层上;

在所述氧化镓纳米片的两端分别制备源电极和漏电极;

对所述源电极、所述漏电极、所述氧化镓纳米片、所述n型轻掺SiC栅介质层、所述n型重掺SiC层和所述底栅电极进行退火处理,以得到SiC基MIS器件。

在本发明的一个实施例中,在蓝宝石衬底上制备氧化镓纳米片,包括:

将氧化镓粉末和碳粉进行配比并均匀混合以制备混合粉末;

利用化学气相沉积工艺在所述蓝宝石衬底上制备所述氧化镓纳米片。

在本发明的一个实施例中,利用化学气相沉积工艺在所述蓝宝石衬底上制备所述氧化镓纳米片,包括:

将所述混合粉末放入刚玉舟并置于石英管中,将所述蓝宝石衬底置于气流下游离所述混合粉末距离5~20cm处,通过化学气相沉积法生长1~3h后得到氧化镓纳米片。

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