[发明专利]一种内嵌式触控显示装置的测试方法

权利要求书

1.一种内嵌式触控显示装置的测试方法，其特征在于，包括：

提供一内嵌式触控显示装置，其中所述内嵌式触控显示装置具有一触控显示区与一周边区，所述内嵌式触控显示装置包括：

一第一基板；

多条扫描线与多条数据线，设置在所述第一基板上且位于所述触控显示区内；

多个触控电极，位于所述触控显示区内；以及

多个基板连接垫，设置在所述第一基板上且位于所述周边区内，所述多个基板连接垫包括多个第一连接垫与多个第二连接垫，各个所述第一连接垫分别与所述多条数据线中对应的一条电连接，各个所述第二连接垫分别与所述多个触控电极中对应的一个电连接，各个所述第一连接垫与各个所述第二连接垫分别都具有一接合部以及一延伸部，且所述接合部的面积小于所述延伸部的面积，其中各个所述第一连接垫的所述接合部与各个所述第二连接垫的所述接合部用于在进行所述内嵌式触控显示装置的触控显示测试后分别与至少一集成电路芯片的多个芯片连接垫中对应的一个重叠并且接合，且各个所述第一连接垫的所述延伸部与各个所述第二连接垫的所述延伸部不重叠所述多个芯片连接垫中的任一个；

提供一内嵌式触控显示装置测试系统，其中所述内嵌式触控显示装置测试系统包括：

一测试盘，具有多个导电针脚；以及

一测试电路板，与所述多个导电针脚电连接；以及

进行所述触控显示测试，其中各个所述第一连接垫的所述延伸部与各个所述第二连接垫的所述延伸部分别与所述多个导电针脚中对应的一个接触，且所述内嵌式触控显示装置测试系统对所述内嵌式触控显示装置提供测试信号以测试所述内嵌式触控显示装置的触控功能与显示功能。

2.如权利要求1所述的内嵌式触控显示装置的测试方法，其特征在于，所述多个基板连接垫还包括多个第三连接垫，分别与所述多条扫描线中对应的一条电连接，而当进行所述触控显示测试时，各个所述第三连接垫与所述多个导电针脚中对应的一个接触。

3.如权利要求1所述的内嵌式触控显示装置的测试方法，其特征在于，所述内嵌式触控显示装置还包括至少一驱动电路，所述多个基板连接垫还包括多个第四连接垫，所述驱动电路电连接所述多条扫描线与所述多个第四连接垫，而当进行所述触控显示测试时，各个所述第四连接垫与所述多个导电针脚中对应的一个接触，并且所述内嵌式触控显示装置测试系统对所述驱动电路提供驱动电路控制信号。

4.如权利要求3所述的内嵌式触控显示装置的测试方法，其特征在于，所述驱动电路控制信号包括时钟信号和起始信号。

5.如权利要求1所述的内嵌式触控显示装置的测试方法，其特征在于，当进行所述触控显示测试时，所述触控功能与所述显示功能分别在不同的时序中测试。

6.如权利要求5所述的内嵌式触控显示装置的测试方法，其特征在于，所述触控功能与所述显示功能分别在第一时序和第二时序中测试；在第一时序时，各个所述触控电极作为共享电极且所述多个第二连接垫传送所述共享电极的电位至所述多个触控电极，以显示预定的画面；在第二时序时，所述多个第二连接垫传送触控信号至所述多个触控电极。

7.如权利要求1所述的内嵌式触控显示装置的测试方法，其特征在于，所述测试盘具有一字型、L型或凹字型形状。

8.如权利要求1所述的内嵌式触控显示装置的测试方法，其特征在于，所述内嵌式触控显示装置还包括一液晶层和一第二基板，所述第二基板与所述第一基板相对设置，所述液晶层设置在所述第一基板与所述第二基板之间，所述多个触控电极设置在所述液晶层与所述第一基板之间或设置在所述液晶层与所述第二基板之间。

9.如权利要求1所述的内嵌式触控显示装置的测试方法，其特征在于，所述接合部与所述延伸部分别为矩形。

10.如权利要求9所述的内嵌式触控显示装置的测试方法，其特征在于，所述接合部的宽度小于或等于所述延伸部的宽度。