[发明专利]一种集成电路晶圆背面处理工艺在审
| 申请号: | 202110640301.0 | 申请日: | 2021-06-09 |
| 公开(公告)号: | CN113380615A | 公开(公告)日: | 2021-09-10 |
| 发明(设计)人: | 肖笛;涂利彬;肖广源;罗红军 | 申请(专利权)人: | 上海华友金裕微电子有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/306 | 分类号: | H01L21/306;H01L21/3205;H01L21/321;H01L21/02;H01L21/683;C23C14/16 |
| 代理公司: | 常州市科谊专利代理事务所 32225 | 代理人: | 孙彬 |
| 地址: | 201700 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 集成电路 背面 处理 工艺 | ||
1.一种集成电路晶圆背面处理工艺,其特征在于,包括如下步骤:
T1、晶圆正面贴玻璃,通过黏合剂在晶圆正面贴上一层玻璃,玻璃和晶圆合为一体,提高了晶圆的整体支撑力,可以将晶圆厚度减薄到很低,达到50um,贴上玻璃的晶圆因支撑力提高,在后续的晶圆加工工序中便于运输和传递,具体为晶圆通过机械手臂放置在工作区域,在晶圆正面上涂一层黏合剂,设备自动将玻璃放置在涂抹黏合剂的晶圆正面上,利用激光加热技术,将玻璃和晶圆正面牢牢的合为一体,晶圆的整体支撑力加大。
T2、晶圆背面减薄:将晶圆固定在研磨设备内,通过机械磨加化学研磨液的方式进行,将晶圆背面减薄,有了正面玻璃的支撑,晶圆背面可以减薄到50um。
T3、晶圆背面蚀刻:将研磨后的晶圆放置在专用提篮中,利用酸性化学药剂对晶圆背面进行蚀刻,消除晶圆背面减薄对晶圆背面的不良影响,消除晶圆表面的轻微裂纹,消除研磨过程中产生的内应力,以及减薄过程中的细微不平整,在晶圆背面表面形成细微锯齿状纹路,提高晶圆背面与下道工序的金属结合力。
T4、晶圆背面真空热蒸镀:将晶圆固定在设备衬底上,采用物理的方法在晶圆背面上利用电子束加热金属的方式依次蒸发沉积三层金属层,分别是钛层、镍层和银层,三层金属的厚度达到10um,可根据产品的设计要求来设定不同的金属层厚度。
T5、晶圆背面电化学处理:先将热蒸镀后的晶圆先进行退银处理,因为银层与空气接触后会很快氧化,需要将银层表面的氧化层退掉,利用专有的退银剂处理,对退银后的银层表面再进行活化处理,提高晶圆表面银层的结合力,对晶圆的预浸处理,保护电化学沉积覆镍的化学溶液浓度,在晶圆表面银层的基础上利用电化学方式沉积一层厚银,再利用电化学的方式沉积一层镍,镍层的作用是保护金属银层不被氧化,同时镍层有很好的可焊性,对晶圆进行水洗、热水洗和烘干,清洁晶圆正面和晶圆背面。
T6、晶圆背面贴膜:在晶圆背面上贴上一层蓝膜,保护下道工序去除正面玻璃的时候不损伤到晶圆背面,同时为后道的封装芯片作准备。
T7、晶圆正面玻璃去除:晶圆通过机械手臂放置在工作区域,利用激光加热方式,融化黏合剂,利用机械手臂去除正面玻璃,此工序完成后,集成电路晶圆背面处理完成。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华友金裕微电子有限公司,未经上海华友金裕微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110640301.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





