[发明专利]发光显示装置及感测其劣化的方法在审
申请号: | 202110635445.7 | 申请日: | 2021-06-08 |
公开(公告)号: | CN113781962A | 公开(公告)日: | 2021-12-10 |
发明(设计)人: | 金河中 | 申请(专利权)人: | 乐金显示有限公司 |
主分类号: | G09G3/3225 | 分类号: | G09G3/3225;G09G3/00;G01M11/00 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光 显示装置 方法 | ||
公开了一种发光显示装置及感测其劣化的方法。所述发光显示装置包括:显示面板,所述显示面板包括高电位电源电压线、低电位电源电压线和多个像素,每个像素包括驱动晶体管和有机发光二极管;时序控制器,在感测模式中配置为:根据通过对于每个像素累积图像数据而获得的累积图像数据的大小产生N个感测图像,并且将N个感测图像中的至少一个感测图像显示在所述显示面板上并获得有机发光二极管的劣化量,其中N是自然数;和劣化感测单元,配置为:通过在显示面板上显示至少一个感测图像的状态下按每个面板或按面板中的每个区域感测电学物理量来估测有机发光二极管的劣化量,并且将有机发光二极管的劣化量提供至时序控制器。
本申请要求享有于2020年6月10日提交的韩国专利申请No.10-2020-0070377的权益,通过引用将该专利申请并入本文,如同在本文完全阐述一样。
技术领域
本发明涉及一种能够通过感测由于工艺偏差而导致的每个发光显示面板或区域的劣化率(deterioration rate)来执行劣化补偿的发光显示装置及感测发光显示装置的劣化的方法。
背景技术
在信息社会中,在用于将视觉信息显示为图像的显示装置领域中已开发了大量技术。在显示装置之中,有机发光显示装置使用诸如有机发光二极管之类的自发光器件来显示图像。
有机发光显示装置因使用通过电子和空穴的重组在发光层中发光的自发光器件而具有快速响应速度,同时具有高亮度和低驱动电压且可以是超薄的,并且可以实现为自由形状,因此作为下一代显示器引起了关注。
有机发光显示装置包括:显示面板,显示面板包括数据线、扫描线和形成在数据线与扫描线之间的交叉部分的多个子像素;用于向扫描线提供扫描信号的栅极驱动器;和用于向数据线提供数据电压的数据驱动器。
每个子像素包括有机发光二极管和用于独立驱动有机发光二极管的像素电路。像素电路包括:驱动晶体管,驱动晶体管用于根据栅极电极的电压调节提供至有机发光二极管的电流量;和扫描晶体管,扫描晶体管用于响应于扫描线的扫描信号将数据线的数据电压提供至驱动晶体管的栅极电极。
由于在有机发光显示装置的制造期间的工艺偏差或由于长期驱动而导致的驱动晶体管的劣化,驱动晶体管的阈值电压对于每个像素来说不同。就是说,当对像素施加相同的数据电压时,提供至每个有机发光二极管的电流需要是恒定的,但即使对像素施加相同的数据电压,由于像素之间驱动晶体管的阈值电压的差异,提供至有机发光二极管的电流对于每个像素来说也可发生变化。有机发光二极管也会由于长期驱动而劣化,在这种情况下,有机发光二极管的亮度对于每个像素来说也会发生变化。因而,即使对像素施加相同的数据电压,从有机发光二极管发射的光的亮度对于每个像素来说也会发生变化。为了克服此问题,提供了用于补偿驱动晶体管的阈值电压和有机发光二极管的劣化的补偿方法。
使用外部补偿方法来补偿驱动晶体管的阈值电压和有机发光二极管的劣化。外部补偿方法是这样一种方法,即,对像素施加预设数据电压,根据预设数据电压,通过预设感测线感测驱动晶体管的源极电压,使用模数转换器将感测的电压转换为作为数字数据的感测数据,并且根据感测数据补偿要提供至像素的数字视频数据。
这种常规的补偿方法是在假设每个显示面板或在一个显示面板内发生相同劣化的前提下补偿每个有机发光二极管。
然而,由于有机发光二极管的工艺偏差,对于每个显示面板来说或对于一个显示面板内的每个区域来说,劣化率不同,因此当基于相同的标准劣化模型计算并补偿劣化量时,存在发生补偿误差以及发生图像残留(image sticking)的问题。
发明内容
因此,本发明的一个目的是提供一种发光显示装置及感测其劣化的方法,其通过按每个显示面板或按单个面板中的每个区域感测电学物理量而估测劣化水平,并且按每个面板或按单个面板中的每个区域补偿这些值,从而克服由于工艺偏差导致的补偿误差。
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