[发明专利]一种用于光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置在审

专利信息
申请号: 202110635133.6 申请日: 2021-06-08
公开(公告)号: CN113295189A 公开(公告)日: 2021-08-24
发明(设计)人: 郝芳;郑伟;张平;蔡珂珺;郭明;王瑶;杨海金;孟海能;张耀芹 申请(专利权)人: 江苏北方湖光光电有限公司
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 代理人: 杨立秋
地址: 214000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 光电 校靶中捷联惯导轴 准直仪轴 一致性 装置
【说明书】:

发明公开了一种用于光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置,属于光电技术领域。它包括支撑板、横板、竖板,所述支撑板的下端安装有调节座,所述竖板的表面设置有俯仰向反射镜,所述横板的表面设置有中间基准镜与方位向反射镜,所述横板的一侧设置有右侧基准镜。本发明可达到秒级精度,该装置表征惯导轴线的准确度和校准精度更高,适应于高精度惯性测量系统,光电校准可以适用于任何角度的偏差校正,无需进行光机粗校正,既提高了惯导轴线与自准直仪光轴一致性的校正精度,也提高了工作效率。

技术领域

本发明涉及光电技术领域,尤其涉及一种用于光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置。

背景技术

随着惯导技术的发展,越来越多的设备利用惯导的惯性测姿优势进行一定的姿态测量,而这种测量过程中通常将光电测量设备与惯导相结合,形成捷联式安装形式,既保证了设备的精度要求,也提高了设备的综合可靠性。

在新型的光电校靶产品中,就利用自准直仪与惯导的各自优势,发挥光电自准直仪的光学特性实现光学轴线对准,继而通过惯导获取出光学轴线的惯性姿态,继而可以实现对相应设备的空间轴线姿态测量,通过这种轴线姿态的测量方式,可以实现对相应产品的惯性测量,因此光电惯性校靶类产品就涉及到捷联惯导轴线与自准直仪光轴一致性的检校方法。

在捷联惯导与光电自准直仪结合的产品中,需要将惯导的轴线与自准直仪的光轴调校一致,使得两者的姿态关系差最小,这样的的关系差越小则可以获得越高的测姿精度。惯导为捷联式,其数字轴系是在三轴转台上通过标定建立的,对外表现为安装靠面,因此利用平晶紧靠安装靠面对自准直光轴进行校准,这种传统的光机校正属于粗略校正,由于各种原因,校正的精度很难达到系统要求,为此,我们提出一种用于光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置。

发明内容

本发明主要针对于现有技术中微光瞄准镜在恶劣环境下成像不清晰的问题,提供一种用于光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置;通过合理设置红外组件、机身组件、投影组件、夹持组件,可以提升夜间观察的探测能力,而且提高人眼对目标的反应速度、对伪装的识别能力以及对环境的适应性。

本发明的一种用于光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置,包括支撑板、横板、竖板,所述支撑板的下端安装有调节座,所述竖板的表面设置有俯仰向反射镜,所述横板的表面设置有中间基准镜与方位向反射镜,所述横板的一侧设置有右侧基准镜。

优选的,所述横板、竖板均固定在支撑板的上端,且横板位于竖板的前方。

优选的,所述俯仰向反射镜为在竖板的表面呈弧形排布的七组。

优选的,所述方位向反射镜为在横板的表面呈线性排布的六组。

优选的,所述中间基准镜的两侧各设置三组方位向反射镜。

优选的,所述中间基准镜、方位向反射镜、右侧基准镜的水平中心线位于同一高度。

优选的,所述调节座安装在支撑板的下端,所述调节座为矩形阵列排布的六组。

本发明具有如下有益效果:

本发明的一种用于光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置,包括支撑板、横板、竖板,所述支撑板的下端安装有调节座,所述竖板的表面设置有俯仰向反射镜,所述横板的表面设置有方位向反射镜与右侧基准镜;与传统光学平晶引出的光机校正法相比,光电校准属于精确调校,可达到秒级精度,该装置表征惯导轴线的准确度和校准精度更高,适应于高精度惯性测量系统,光电校准可以适用于任何角度的偏差校正,无需进行光机粗校正,既提高了惯导轴线与自准直仪光轴一致性的校正精度,也提高了工作效率。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解,其中:

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