[发明专利]晶体热透镜焦距的测量装置及其测量方法在审
申请号: | 202110632694.0 | 申请日: | 2021-06-07 |
公开(公告)号: | CN113432837A | 公开(公告)日: | 2021-09-24 |
发明(设计)人: | 钟朝阳;于真真;张鑫;王明建;侯霞;陈卫标 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶体 透镜 焦距 测量 装置 及其 测量方法 | ||
1.一种晶体热透镜焦距的测量装置,包括:准直光源(1)和剪切干涉仪(4);其特征在于,还包括焦距已知的正透镜(3),沿准直光源(1)的输出光束方向依次放置待测激光晶体(2)、正透镜(3)和剪切干涉仪(4),且所述的待测激光晶体(2)的热透镜与正透镜(3)形成望远镜系统,所述的准直光源(1)发出的准直光束经过待测激光晶体(2)会聚或者发散后,经过所述的正透镜(3)进入所述的剪切干涉仪(4)产生干涉条纹,且干涉条纹与剪切方向平行。
2.根据权利要求1所述的晶体热透镜焦距的测量装置,其特征在于,当待测晶体(2)热透镜焦距为正时,正透镜(3)焦距f接近待测晶体(2)热透镜焦距;当待测晶体(2)热透镜焦距为负时,正透镜(3)焦距f大于待测晶体(2)热透镜焦距的绝对值。
3.根据权利要求1所述的晶体热透镜焦距的测量装置,其特征在于,所述待测激光晶体(2)为吸收泵浦辐射后具有热透镜效应的晶体,泵浦方式为端面泵浦或者侧面泵浦。
4.一种晶体热透镜焦距的测量方法,其特征在于该方法包含下列步骤:
1)当待测晶体(2)热透镜焦距为正时,选择正透镜(3)焦距f接近待测晶体(2)热透镜焦距;
当待测晶体(2)热透镜焦距为负时,选择正透镜(3)焦距f大于待测晶体(2)热透镜焦距的绝对值;
2)沿准直光源(1)的输出光束方向依次放置待测激光晶体(2)、正透镜(3)和剪切干涉仪(4);
3)启动所述准直光源(1)和剪切干涉仪(4),并观察所述剪切干涉仪(4)上获得的干涉条纹,如果干涉条纹方向与剪切方向不平行,则沿激光传输方向移动所述正透镜(3),直至干涉条纹方向与剪切方向平行,此时待测激光晶体(2)的热透镜与正透镜(3)形成望远镜系统;
4)测量待测激光晶体(2)到正透镜(3)距离L,计算待测激光晶体(2)热透镜焦距f′,公式如下:
f′=L-f。
5.根据权利要求4所述的晶体热透镜焦距的测量方法,其特征在于该方法还包括通过旋转剪切干涉仪(4)的剪切方向,实现对待测激光晶体(2)不同方向的热透镜焦距的测量。
6.根据权利要求4所述的晶体热透镜焦距的测量方法,其特征在于该方法还包括对不同泵浦功率下的待测激光晶体(2)热透镜焦距的测量,实现待测激光晶体(2)热透镜焦距实时在线测量。
7.根据权利要求4-6任一所述的晶体热透镜焦距的测量方法,其特征在于当待测激光晶体(2)热透镜焦距为正,所述的望远镜系统为开普勒望远镜系统;当待测激光晶体(2)热透镜焦距为负,所述的望远镜系统为形成伽利略望远镜系统。
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