[发明专利]一种用于评价工件表面形貌结构的激光散射检测方法在审
申请号: | 202110631347.6 | 申请日: | 2021-06-07 |
公开(公告)号: | CN113340853A | 公开(公告)日: | 2021-09-03 |
发明(设计)人: | 殷景飞;徐九华;丁文锋;苏宏华;陈燕;杨长勇;张全利;赵正材 | 申请(专利权)人: | 南京航空航天大学 |
主分类号: | G01N21/49 | 分类号: | G01N21/49;G01N21/21;G01B11/24 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 曹翠珍 |
地址: | 210016*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 评价 工件 表面 形貌 结构 激光 散射 检测 方法 | ||
1.一种用于评价工件表面形貌结构的激光散射检测方法,其特征在于,激光器(1)发射检测激光,检测激光束经过起偏器(2),变为线偏振光(3),再经过偏振分光镜(4),照射到加工材料表面(7),加工材料表面上背散射光经过偏振分光镜(4),与入射光不同偏振状态的光(5)被偏振分光镜反射,进而被探测器(6)接受,通过改变加工材料表面与检测激光束的夹角,获得不同角度下加工材料表面(7)背散射光的偏振状态分布,通过求解获得加工表面的高度起伏方差s2和相关长度Sal,通过回归分析获得零件加工表面准确的高度起伏方差s2和相关长度Sal值,实现加工表面纹理结构和形貌特征的精确检测与评价。
2.根据权利要求1所述的用于评价工件表面形貌结构的激光散射检测方法,激光器提供光学系统的信号源;起偏器放置于激光器出光口前端,使得激光偏振状态为线偏振激光;偏振分光镜放置于扩束镜出光口的前方,用于分离不同偏振状态的光;探测器用于探测表面背散射光偏振方向改变的光功率信号。
3.根据权利要求1所述的用于评价工件表面形貌结构的激光散射检测方法,其特征在于,所述的工件是非透明材料,材料表面是平面或者复杂曲面,所述入射角的调整角度是0-60°。
4.根据权利要求3所述的用于评价工件表面形貌结构的激光散射检测方法,其特征在于,所述的工件是金属或者非金属。
5.根据权利要求1或者2所述的用于评价工件表面形貌结构的激光散射检测方法,其特征在于,具体工艺如下:
步骤一、激光器发射激光,经过起偏器之后,激光变为线偏振光,经过偏振分光镜透射,照射到待测样品表面上;
步骤二、线偏振激光经过待测样品加工材料表面粗糙峰、纹理形貌背散射后,偏振状态发生改变;
步骤三、样品加工材料表面背散射光经过偏振分光镜,与原入射光偏振方向不同的光,被偏振分光镜反射,进而被探测器接受;
步骤四、改变激光束与样品表面的相对角度,获得样品在不同位置时的背散射光信号;
步骤五、基于不同位置处探测器接受背散射光偏振信号分布,求解获得加工表面的高度起伏方差s2和相关长度Sal;
探测器测量的光信号主要取决于加工表面的高度起伏方差s2和相关长度Sal,通过不同角度下加工表面背散射光的偏振状态,根据公式(1),求解不同角度处加工表面的高度起伏方差s2和相关长度Sal;
其中,Cpp、Cps、Css、Csp分别表示不同偏振状态背散射光与入射光强度的比值;θi、k分别表示入射光的入射角和波数;rp、rs表示不同偏振状态光在加工表面的振幅反射系数。
每一个角度对应一个Cpp、Cps、Css、Csp值,而这些值只取决于s2和Sal,那么检测两个不同入射角就能得到关于s2和Sal的二元一次方程组,即可解出s2和Sal;
步骤六、通过线性回归法零件加工表面准确的高度起伏方差s2和相关长度Sal值,实现加工表面纹理结构和形貌特征的精确检测与评价。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京航空航天大学,未经南京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110631347.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。