[发明专利]一种振动检测装置在审
| 申请号: | 202110626534.5 | 申请日: | 2021-06-04 |
| 公开(公告)号: | CN113532620A | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
| 发明(设计)人: | 李永选 | 申请(专利权)人: | 李永选 |
| 主分类号: | G01H9/00 | 分类号: | G01H9/00 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 711700 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 振动 检测 装置 | ||
1.一种振动检测装置,包括壳体(1),其特征在于:所述壳体(1)内壁底端设置有激光器(2),所述激光器(2)一侧设置有探测器(3),所述壳体(1)内壁顶端的一侧设置有弹簧部(4),所述弹簧部(4)底端设置有第一磁铁块(5),所述壳体(1)内壁远离弹簧部(4)的一侧设置有悬臂梁(6),所述悬臂梁(6)远离壳体(1)的一端设置有第二磁铁块(7),所述悬臂梁(6)中间设置有空槽(8),所述空槽(8)中设置有纳米团簇(9),所述悬臂梁(6)顶端设置有反射部(10);
具体的,工作时,激光器(2)产生光穿过悬臂梁(6)照射在纳米团簇(9)上,纳米团簇(9)、反射部(10)和二者之间的透明悬臂梁(6)构成光学腔,反射部(10)将光限制在纳米团簇(9)中,增强光与物质的相互作用,纳米团簇(9)和反射部(10)之间设置一定的间距,就可以反射特定波长的光,而纳米团簇(9)的无序度,对反射光谱的带宽影响巨大,通过改变纳米团簇(9)中纳米颗粒的密度,就可以调控纳米团簇(9)的无序度,在检测振动时,第一磁铁块(5)会发生振动,第一磁铁块(5)和第二磁铁块(7)之间有磁铁力,第二磁铁块(7)也会发生振动,因此悬臂梁(6)会产生弯曲,会对中间的纳米团簇(9)产生挤压,纳米团簇(9)的密度的会发生变化,纳米团簇(9)中纳米颗粒之间的相互作用就会变大,会增大纳米颗粒的无序度,因此会改变系统的反射谱的带宽,因此通过探测器(3)检测反射光谱的变化,就可以得出振动的的大小。
2.根据权利要求1所述的一种振动检测装置,其特征在于:所述纳米团簇(9)的材料为无序的银纳米颗粒材料。
3.根据权利要求2所述的一种振动检测装置,其特征在于:所述组成纳米团簇(9)的纳米颗粒形状可以为球形、长条形,星形。
4.根据权利要求1所述的一种振动检测装置,其特征在于:所述反射部(10)材料可以为金,也可以为银。
5.根据权利要求1所述的一种振动检测装置,其特征在于:所述纳米团簇(9)填充满整个空槽(8)。
6.根据权利要求1所述的一种振动检测装置,其特征在于:所述空槽(8)底端的形状为凸起状。
7.根据权利要求1所述的一种振动检测装置,其特征在于:所述悬臂梁(6)的材料为透明弹性材料。
8.根据权利要求7所述的一种振动检测装置,其特征在于:所述反射部(10)和纳米团簇(9)之间的悬臂梁(6)的材料为晶体材料。
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