[发明专利]晶体对称性及能带路径确定方法及装置

权利要求书

1.一种晶体对称性及能带路径确定方法，其特征在于，包括：

基于目标晶体的结构参数，确定所述目标晶体的标准晶体学晶胞；

获取所述标准晶体学晶胞对应的初基元胞；

基于所述初基元胞，确定目标晶体的点群。

2.根据权利要求1所述的晶体对称性及能带路径确定方法，其特征在于，所述基于所述初基元胞，确定目标晶体的点群之后，还包括：

基于所述目标晶体的点群，确定所述目标晶体的空间群。

3.根据权利要求1所述的晶体对称性及能带路径确定方法，其特征在于，所述获取所述标准晶体学晶胞对应的初基元胞之后，还包括：

基于所述初基元胞，获取所述初基元胞对应的能带路径。

4.根据权利要求1所述的晶体对称性及能带路径确定方法，其特征在于，所述基于所述初基元胞，确定目标晶体的点群，具体包括：

基于目标操作矩阵和所述目标晶体的原子坐标，确定有效的对称操作；

基于所述有效的对称操作和所述初基元胞的原子坐标，确定所述目标晶体的点群。

5.根据权利要求2所述的晶体对称性及能带路径确定方法，其特征在于，所述基于所述目标晶体的点群，确定所述目标晶体的空间群，具体包括：

基于所述目标晶体的原子坐标和所述初基元胞所属的点群，确定所述初基元胞所在的空间群。

6.根据权利要求1所述的晶体对称性及能带路径确定方法，其特征在于，所述基于目标晶体的结构参数，确定所述目标晶体的标准晶体学晶胞，具体包括：

基于目标晶体的结构参数，确定所述目标晶体的Bravais格子类型，并基于最小晶格矢量，获取所述标准晶体学晶胞。

7.根据权利要求6所述的晶体对称性及能带路径确定方法，其特征在于，所述基于所述初基元胞，获取所述初基元胞对应的能带路径，具体包括：

基于所述目标晶体的Bravais格子类型，确定k点及连接所述k点的所述能带路径。

8.一种晶体对称性及能带路径确定装置，其特征在于，包括：

标准化模块，用于基于目标晶体的结构参数，确定所述目标晶体的标准晶体学晶胞；

晶胞约化模块，用于获取所述标准晶体学晶胞对应的初基元胞；

点群确定模块，用于基于所述初基元胞，确定目标晶体的点群。

9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至7任一项所述的晶体对称性及能带路径确定方法的步骤。

10.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的晶体对称性及能带路径确定方法的步骤。