[发明专利]信号的高频震荡特征处理方法有效
申请号: | 202110622371.3 | 申请日: | 2021-06-03 |
公开(公告)号: | CN113361389B | 公开(公告)日: | 2023-01-20 |
发明(设计)人: | 邹明珣;朱阳军;张文亮;雷小阳;张军辉 | 申请(专利权)人: | 山东阅芯电子科技有限公司 |
主分类号: | G06F18/24 | 分类号: | G06F18/24;H01L21/66 |
代理公司: | 苏州国诚专利代理有限公司 32293 | 代理人: | 韩凤 |
地址: | 264315 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信号 高频 震荡 特征 处理 方法 | ||
本发明涉及一种信号的高频震荡特征处理方法。其包括如下步骤:步骤1、在知识库内存储震荡解决方案;步骤2、对待处理的信号,当在知识库内搜索得到匹配的震荡解决方案时,则跳转至步骤3,否则,跳转至步骤4;步骤3、利用搜索到的震荡解决方案对待处理的信号进行处理,生成处理报告并跳转至步骤6;步骤4、获取标准波形,并根据正对应的标准波形得到所述待处理波形的波形特征;步骤5、根据上述确定待处理信号的波形特征,确定所述待处理信号的震荡信号处理方法;步骤6、结束。本发明能提高波形分析过程的真实性、灵活性、严密性与可靠性,同时适应了波形不可以预见的振荡干扰,可持续对复杂程度变化的高频震荡进行切实有效的趋势提取。
技术领域
本发明涉及一种处理方法,尤其是一种信号的高频震荡特征处理方法。
背景技术
随着半导体产业的广泛应用与快速发展,半导体开关器件逐渐丰富,高负载、快响应、低功耗的动态要求也日趋提高;对于检测设备来而言,“批量、快速、一致、真实”也是半导体检测行业面临的压力与挑战;提高动态测试的分析效率对于研发与工艺改进具有重要意义。
半导体器件在研发生产过程中,需要根据产品目标市场需求与要求等进行特定的产品设计,例如核心芯片,封装工艺等。在完成产品设计与生产后,需要对产品进行动态测试,通过分析动态测试参数确定所述半导体器件是否符合市场需求要求,在真实的动态参数下及时调整设计或产品工艺,提高半导体器件的技术指标。对于已经量产的半导体器件进行批量动态测试分析,能够保证半导体器件的设计生产工艺的可靠性,提高企业公信力。但是在检测领域,既要保证信号波形的真实性又要给出一致具体的量化参数,这在震荡信号波形处理中一直是个难解决的问题。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术中存在的不足,提供一种信号的高频震荡特征处理方法,其能提高波形分析过程的真实性、灵活性、严密性与可靠性,同时适应了波形不可以预见的振荡干扰,可持续对复杂程度变化的高频震荡进行切实有效的趋势提取。
按照本发明提供的技术方案,一种信号的高频震荡特征处理方法,所述处理方法包括如下步骤:
步骤1、提供知识库,在所述知识库内存储若干震荡解决方案,其中,每一震荡解决方案包括信号采集对象名称、波形条件、有效信号频率、采集频率、采集精度、采集长度、标准波形以及相对应的震荡信号处理方法;
步骤2、对待处理的信号,获取所述待处理信号的基本特征,并根据所获取的基本特征在上述知识库内进行搜索,当在知识库内搜索得到匹配的震荡解决方案时,则跳转至步骤3,否则,跳转至步骤4;
步骤3、利用搜索到的震荡解决方案对所述待处理的信号进行处理,生成处理报告并跳转至步骤6;
步骤4、获取与所述待处理信号对应的标准波形,并确定所述待处理信号内所包含的所有近似特征位置,将所述待处理信号的近似特征位置与标准波形内的标准波形特征点进行映射,以根据映射状态得到特征点映射叠图;
根据特征点映射叠图内的特征点相交状态,确定与所述待处理信号正对应的标准波形,以能根据所述与待处理信号正对应的标准波形,并根据正对应的标准波形得到所述待处理波形的波形特征;
步骤5、根据上述确定待处理信号的波形特征,确定所述待处理信号的震荡信号处理方法,且将所述待处理信号的基本特征以及震荡信号处理方法作为震荡解决方案添加到知识库内;
步骤6、结束。
步骤2中,获取待处理信号的基本特征包括信号采集对象名称、波形条件、有效信号频率、采集频率、采集精度以及采集长度。
步骤5中,震荡信号处理方法包括对待处理信号内相邻近似特征位置的填充处理,所述填充处理包括平移、压缩、拉伸、旋转、多项式拟合、中值包络和/或后插值拟合。
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